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ADMS 角分辨光谱测量仪

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ADMS 角分辨光谱测量仪


FOMS角分辨光谱仪是一款可变角度的多功能光谱测量仪器,采用智能旋转设计,自动控制入射与采集角度,可快速实现透过/反射/荧光/散射/辐射等多种光谱测量。适用于光子晶体等纳米材料的能带缺陷特性研究、光学元件的不同角度的透反射测量、LED等发光器件的发光特性研究。


仪器特点:

◆ 全角度测量:发射端角度范围0°至180° ,接收端角度范围0°至360° ,可以实现反射、透射、散射、荧光和辐射的全角度光谱测量;

◆ 精确角度控制:高精度电机,角度精度及重复性能优异;

◆ 多光谱测量模式:可以实现上反射、下反射、透射、散射/荧光、辐射等多种光谱测量;

◆ 宽光谱范围:内置卤素光源,可实现380~ 1700nm超宽波段光谱测量范围;

◆ 可编程测量模式:可以通过编程设置不同的角度范围和步进,来实现自动多角度光谱测量,可批量测试;

◆ 扩展性好:根据客户的需求,可以选择不同的光源、滤光片、偏振片等配件完成不同的光谱测量;

◆ 多维调节样品台:样品台由高精度三维位移台和二维倾斜台组成,可实现样品的五维正交调节。


应用领域:

光子晶体器件、材料镀膜、纳米光学材料、LED光源、液晶显示、传感器器件制备、角度相关材料分析


技术参数:


型号ADMS-NIRADMS-VIS
调节维度x+y/α+β4维x+y/α+β4维
测量模式上反射、下反射、透射、散射、辐射、
自由、编程
上反射、下反射、透射、散射、辐射、
自由、编程
光谱波段900~1700nm380~1100nm
入射光锥半角3.9°,添加光阑后,最小锥角可达1°3.9°,添加光阑后,最小锥角可达1°
出射光锥半角3.9°,添加光阑后,最小锥角可达1°3.9°,添加光阑后,最小锥角可达1°
外臂(入射)范围0~180°0~180°
内臂(出射)范围0~360°0~360°
最小步距角0.0o12°0.0012°
角度精度±0.05°±0.05°
功耗5o W(卤素灯:9w )5o W(卤素灯:9w )
计算机控制接口USB 2.0@480 MbpsUSB 2.0@480 Mbps
电源接口AC 220V,标准电源插口AC220V,标准电源插口
尺寸(cm)600*300*420600*300*420


产品优势
◆ 全角度测量:发射端角度范围0°至180° ,接收端角度范围0°至360° ,可以实现反射、透射、散射、荧光和辐射的全角度光谱测量;
◆ 精确角度控制:高精度电机,角度精度及重复性能优异;
◆ 多光谱测量模式:可以实现上反射、下反射、透射、散射/荧光、辐射等多种光谱测量;
◆ 宽光谱范围:内置卤素光源,可实现380~ 1700nm超宽波段光谱测量范围;
◆ 可编程测量模式:可以通过编程设置不同的角度范围和步进,来实现自动多角度光谱测量,可批量测试;
◆ 扩展性好:根据客户的需求,可以选择不同的光源、滤光片、偏振片等配件完成不同的光谱测量;
◆ 多维调节样品台:样品台由高精度三维位移台和二维倾斜台组成,可实现样品的五维正交调节。
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