◆ 全角度测量:发射端角度范围0°至180° ,接收端角度范围0°至360° ,可以实现反射、透射、散射、荧光和辐射的全角度光谱测量; ◆ 精确角度控制:高精度电机,角度精度及重复性能优异; ◆ ...

◆用户可自定义测量位置; ◆无损检测，支持成品全检; ◆全自动快速测量,无需人工操作,支持滤光片均匀性分析; ◆单点测量速度小于0.2秒。

◆用户可自定义样品测量位置,定位准确; ◆无损检测，支持成品全检 ◆单点测量速度极快。

针对光学元件ZX厚度非接触式测量设计，非接触式光谱快速测量仪器。

◆大角度采集全穿透式测量; ◆ 可对多 孔进行快速测量; ◆数字视频对焦,使微小区域实现JZ测量; ◆实时显示测量样品关注波长位置的透射率数据及半透波长检测,自动调整显示坐标范围,可对批量样品进...

满足球面、非球面、塑料制品等器件散透射参数JZ测量; 测试速度极快, 1秒出结果,实现产品全检; 可实现极小样品的透过率检测。

Planum-3000平面光学元件光谱分析仪可针对平面光学元件反射率、透射率、偏振光、膜性、颜色等进行多角度快速测量。适用于棱镜、平行平板、平晶、滤光片、红外截止片等众多类型光学元件参数测量。

显微测定微小领域的反射率 物镜对焦于被测物微小区域（φ60μm） CIE颜色测定 X Y色度图，x, y, L, a, b, 饱和度，主波长等 检测速度快 高性能探测器，能在几秒内实现重现...