卓立汉光 Flex One 显微光致发光光谱仪

Flex One 显微光致发光光谱仪：
 

光致发光(photoluminescence) 即PL，是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光，在半导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光（波长如325nm、532nm、785nm 等）激发材料（如GaN、ZnO、GaAs 等）产生荧光，通过对其荧光光谱（即PL 谱）的测量，分析该材料的光学特性，如禁带宽度等。光致发光可以提供有关材料的结构、成分及环境原子排列的信息，是一种非破坏性的、高灵敏度的分析方法，因而在物理学、材料科学、化学及分子生物学等相关领域被广泛应用。

传统的显微光致发光光谱仪都是采用标准的显微镜与荧光光谱仪的结合，但是传统的显微镜在材料的PL 谱测量中，存在很大的局限性，比如无法灵活的选择实验所需的激光器（特别对于UV 波段的激光器，没有足够适用的配件），无法方便的与超低温制冷机配合使用，采用光纤作为光收集装置时耦合效率太低等等问题，都是采用标准显微镜难以回避的问题。

北京卓立汉光仪器有限公司结合了公司十余年荧光光谱仪和光谱系统的设计经验和普遍用户的实际需求，推出了“Flex One( 微光）”系列显微光致发光光谱仪，有效的解决了上述问题，是目前市场上高性价比的的显微PL 光谱测量的解决方案。

 性能特点：
■ 一体化的光学调校——整机设计，结构稳固，光路稳定，确保gao效性和易用性
■ 简单易用的双样品光路设计——可随意在水平和垂直样品光路上进行切换，适用于各种常见的样品夹具
■ 超宽光谱范围——200nm-2600nm
■ 视频监视光路——通过监视器，查找微米级样品，可供精确调整，定位测试样品点
■ 多种激发波长可选——266nm，325nm，405nm，442nm，473nm，532nm，633nm，785nm等
■ 自动mapping功能可选——50mm×50mm标准测量区间，可定制特殊规格，步进精度1μm
■ 荧光寿命测量功能可选——μs、ns、ps荧光寿命测量选项
■ 电致发光(EL)功能可选——扩展选项
■ 显微拉曼光谱测量功能可选——扩展选项
■ 超低温测量附件可选——可配置多种低温样品台
*选配项，请详细咨询；
**需根据实际需要进行配置确定。

系统组成：

● 激发光源部分：紫外-近红外波段各种波长激光器
● 显微光路部分：优化设计的专用型显微光路
● 光谱采集部分：影像校正光谱和高灵敏型科学级CCD或单点探测器和数据采集器
● 样品台支架部分：xyz三维可调样品台（手动或自动）、超低温样品台
 

参数规格表：

主型号		Flex One
光谱范围		200-1000nm(200-2600nm)
光谱分辨率		~0.1nm
激发光可选波长		266nm，325nm，405nm，442nm，473nm，532nm，633nm，785nm等
探测器	类型	单点 PMT	单点 PMT	单点 InGaAs	CCD 1024×122	InGaAs阵列 512×1	InGaAs阵列 1024×255
	有效范围	200-900nm	950-1700nm	800-2600nm	200-1000nm	800-1700nm	200-1000nm
空间分辨率		<50μm
注*：以上为参考规格，详细规格依据不同配置的选择会有差异，详情请咨询！

测量附件：
电致发光测试附件
Flex One 可升级电致发光测试，多样化样品台、样品架可满足用户各类测试需求。针对薄膜、片状样品电致发光，可在正面扎探针，采用长焦显微物镜或定制光纤棒收光；针对背电极样品，可根据用户电极分布情况定制样品台、样品架。除电致发光测试外，亦可升级LBIC 光束诱导电流测试。
荧光寿命测试附件
Flex One 可升级瞬态荧光测试。用户可根据不同测试需求选配不同的脉冲激发光源、探测器及数据采集器。我们可提供半导体激光器、固体激光器、OPO 激光器、超连续激光器以及光电倍增管、ICCD、条纹相机等探测器，满足不同时间段的寿命测试。

	脉冲激发光源	探测器
μs-ms	半导体激光器/固体激光器	光电倍增管/ICCD
ns-μs	OPO激光器/皮秒激光器	光电倍增管/ICCD
ps-ns	超连续激光器/飞秒激光器	光电倍增管/条纹相机