怎样用万用电表检测集成电路

向此问题如果用万用表测集成电路芯片，可釆用在路电阻法、在路电压法、另一种办法就是测量集成电路自身电阻法测量，下面就此以上三种测量方法一 一解答如下：

一、在路静态电阻法，判断集成电路芯片好坏如下：
①、首先用指针万用表的 Rx1K挡 先用黑表笔接地，红表笔分别去测量集成电路芯片各引脚端，所测量的数据记下来，之后，在用红表笔接地，用黑表笔分别去测量集成电路芯片的各引脚端，在记下所测量的数据，Z后两次所测量的数据，和正常资料数据相对比，即可判断好坏了。

二、在路电压法判断集成电路芯片好坏如下：
①、首先将万用表量程开关拨到相应的直流电压挡上，此时上电，用黑表笔接地，用红表笔分别去测量集成电路芯片的每个引脚端，之后把所测量的数据 和 正常芯片数据相刘比，如果相差太大，此时首先检查芯片此引脚端周围元件看是否损坏，如周围元件正常，那很有可能是该芯片内部此脚电路损坏等等。

三、集成电路芯片自身电阻法判断好坏如下(此方法判断集成电路芯片Z有效 和 以上相比准确度高)
①、首先得把集成电路芯片从电路板上取下来，单独测量，方法是：把万用表的量程开关拨到Rx1K挡上，在路取下芯片，等芯片完全散热后，先用黑表笔接该芯片的接地引脚(即芯片内部的公共地端)，之后用红表笔分别去测量各引脚端，此时所测量的数据记下来，然后在用红表笔接芯片地端引脚，之后用黑表笔接芯片各引脚端，这时在记下所测量的数据，Z后和正常芯片数据相对比即可判断好坏的。

②【以上测量判断、首先手中得有该芯片的资料才行】