产品介绍： 塑料产品一、概述 塑料产品是我公司Z新一代通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器。它以单片计算机作为仪器的控制、测量核心，真正实现了介质损耗及介电常数测试仪的数字化，电容、电感、Q值、信号源频率都在一个液晶屏上展示出来。在你操作时，再也不用去注意量程和换算单位。在任何频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。采用DDS数字直接合成方式的内部信号源，具有信号失真小，频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。另外还采用了标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程手动或自动转换，自动稳幅等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至Z低，使得新表在使用时更为方便，测量值更为精确。 能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量...
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薄膜介电常数测试仪 共30个产品
产品简介： 介电常数测试仪/介电常数检测仪/介电常数测定仪 型号：DPSTD-ADPSTD-A介电常数测试仪介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；该仪器广泛应用于大专院校、科研院所对无机非金属新材料性能的应用研究。介电常数测试仪主要技术指标1．频率范围及刻度误差范围：50KHz~50MHz共分七个波段，允许误差：+2% 1.1：50~150KHz； 1.2：150~450KHz 1.3：450~1500KHz； 1.4：1.5~4.5MHz 1.5：4.5~12MHz； 1.6：12~25MHz 1.7：25~50MHz；2．Q值测量范围及误差范围：5~500误差：1）当频率
产品简介： 产品介电常数及介电损耗测试仪HCJDCS-A型 HCJDCS-B型 HCJDCS-C型 HCJDCS-G型 四种型号 HCJDCS-A型 介电常数及介质损耗测试验仪介电常数及介质损耗测试仪介绍 HCJDCS-A介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC 60250）设计和制造的，并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。 相关介绍介电常数又称电容率或相对电容率，是表征电介质或绝缘材料电性能的一个重要数据，常用ε表示。介质在外加电场时会产生感应电荷而削弱电场，原外加电场（真空中）与介质中电场比值即为介电常数。其表示电介质在电场中贮存静电能的相对能力，例如一个电容板中充入介电常数为ε
产品简介：介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法一、介电常数介质损耗试验仪概述GDAT高频 Q 表作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内Z高的160MHz。GDAT高频 Q 表采用了多项领先技术：双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。 计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至Z低，
产品简介：介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法一、介电常数介质损耗试验仪概述GDAT高频 Q 表作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内Z高的160MHz。GDAT高频 Q 表采用了多项领先技术：双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。 计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至Z低，
产品简介：一、符合标准：ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法；二、主机及夹具参数：项目/型号ZJD-BZJD-AZJD-C信号源DDS数字合成信号频率范围10KHZ-70MHZ10KHZ-110MHZ100KHZ-160MHZ信号源频率覆盖比7000:111000:116000:1采样精度11BIT12BIT信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数Q值测量范围1～1000自动/手动量程Q值量程分档30、100、300、1000、自动换档或手动换档Q分辨率4位有效数，分辨率
产品简介： 品Pai 其他品Pai 价格区间 面议
产品简介：ZJD-C型介电常数测试仪器装置一、概述： ZJD-C型介电常数测试仪器装置作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz.ZJD-C介电常数仪采用了多项技术。双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。二、主要技术特性：1信号源DDS数字合成信号 100KHZ-160MHZ2信号源
产品简介： 产品名称：介电常数测试仪 产品型号：ZJD-B、ZJD-C、QS-37符合标准：GB/T1409、GB/T5594产品用途：固体、液体绝缘材料的介电常数及介质损耗测试适用材料：橡胶塑料、塑料薄膜、陶瓷玻璃、绝缘材料、高分子材料等测试范围：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ主要配置：主机Q表、夹具、电感组成测试项目：介电常数、介质损耗、介质损耗因数、介质损耗角正切值使用人群：科研所、教学、质量监督局、单位等检测证书：可出据304所、514所、ZG科学研究院付款方式：全款发货产品品Pai：智德创新产品货期：1-3个工作日产品类别：电性能检测仪器包 装：纸箱介电常数测试仪概述： 介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材
产品简介：ZJD-B/ZJD-C介质损耗介电常数测试仪一、概述ZJD-B高频Q表和ZJD-C高频Q表主要区别 ZJD-BZJD-C测试频率范围10kHz～70MHz100kHz～160MHz主调电容控制传感器马达电容搜索无有ZJD-B/ZJD-C高频Q表能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。ZJD-B介质损耗介电常数测试仪与ZJD-C介质损耗介电常数测试仪是北京中航时代仪器设备有限公司Z新研制的产品，ZJD-B与ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达60MHz /160MHz，信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。ZJD-B介电常数测
产品简介：产品名称：介电常数测试仪产品型号：ZJD-B、ZJD-C、QS-37符合标准：GB/T1409、GB/T5594产品用途：固体、液体绝缘材料的介电常数及介质损耗测试适用材料：橡胶塑料薄膜、陶瓷玻璃、绝缘材料、高分子材料等测试范围：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ主要配置：主机Q表、夹具、电感组成测试项目：介电常数、介质损耗、介质损耗因数、介质损耗角正切值使用人群：科研所、教学、质量监督局、单位等付款方式：全款发货产品品Pai：中航时代产品货期：1-3个工作日产品类别：电性能检测仪器一、概述：ZJD-C型介电常数及介质损耗测试仪又称介电常数测试仪、介质损耗测试仪、介质损耗因数测试仪、介质损耗角正切测试仪、高频/工频介电常数测试仪。作为Z新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器。测试频率上限达到目前国内Z高的160MHz。双扫描技术：测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索
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