高光谱成像技术对胁迫状态下小麦叶片的光谱分析

作物在遭受各种胁迫下的长势及健康诊断是精细农业操作的重要环节高光谱成像技术具有图谱合一的优势，已成为近年来国内外研究的热点利用成像光谱仪，采集遭受养分病虫害胁迫的小麦叶片高光谱图像，利用逐像素平均法增强光谱特征，根据反射率差异进行分析研究结果表明，提取的高光谱能够反映不同叶位叶片的养分差异，还能利用成像图直观地进行作物养分胁迫程度判断；利用成像光谱仪2 nm的光谱分辨率和毫米级的空间分辨率，在作物感染病害时，既可定量每个叶片的病斑个数，又能定性地分析感染面积对叶片造成的影响；在作物遭受虫害时，可对蚜虫群体甚至单个蚜虫的光谱信息进行提取，这能为定量研究蚜虫对小麦叶片的危害提供了新的手段研究表明成像高光谱在作物长势定量定性分析研究中具有独特的优势 SOC720SW短波红外高光谱成像式地物光谱仪 SOC730VS可见光-近红外高光谱成像式地物光谱仪 SOC720SW短波红外高光谱成像光谱仪 PSR-2500野外便携式地物光谱仪 SOC710VP便携式可见/近红外高光谱成像仪 SOC710GX机载可见/近红外高光谱成像光谱仪 SOC750 HB/HS/HR MWIR中波红外成像光谱仪系列