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衍射效率和损伤阈值是多层介质膜(MLD)光栅Z重要的两个性能指标,高衍射效率减少光能量损失,高损伤阈值承受更高的激光能量,帮助实现更高功率激光的输出 衍射效率可以通过实验无损测试,但损伤阈值测试是具有波坏性的,一旦测试,就会导致光栅的性损伤因此理论上我们无法准确知晓某块光栅损伤阈值,只能通过破坏性测试一些样品,估计该品牌光栅的工艺水平 附件文章报道了2007年CEA对3片HJY制造MLD光栅的实际测试,Z高损伤阈值达5 J/ cm2,显著高于其它同类型光栅 多层介质膜光栅

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