采用配有Zxin全能型测量附件的 Agilent Cary 5000 紫外-

该研究的详细情况S次发表在应用光学2012 年 1 月 10 日号（总第 51 卷，第二期）上 极ng确测定薄膜和多层镀膜的光学参数（使用光学镀膜的逆向工程）对于生产高质量的产品至关重要这些数据可以给设计和生产环节提供反馈对每一层依次进行评估后得到的逆向工程结果可以用来调整沉积参数，重校监测系统，改善对各层的厚度控制 通常是使用紫外-可见-近红外 (UV-Vis-NIR) 或傅里叶变换红外 (FTIR) 分光光度法进行光学表征，对透明基板上的薄膜样品垂直入射或接近垂直入射时的透射率 (T)和/或反射率 (R) 的数据进行分析然而，基于垂直入射的透射率和反射率测量的光学表征以及基于垂直或接近垂直入射的透射率和反射率测量数据的可靠的逆向工程仍然十分困难 Agilent Cary 6000i 紫外-可见-近红外