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仪器网/ 应用方案/ 高温高压环境试验箱测试加速水分对电子元件和电路板实验
  • 高温高压环境试验箱测试加速水分对电子元件和电路板实验

    本实验方案利用高温高压环境试验箱,通过设置不同温度(60℃ - 100℃)、压力(0.5 - 1.5MPa)、湿度(85% - 98% RH)和试验时间(24 - 96 小时)

    广东皓天检测仪器有限公司 更新于:2024-11-06
    应用行业: 电子/电气/通讯/半导体 综合   

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一、实验目的


利用高温高压环境试验箱模拟环境,加速水分对电子元件和电路板的侵蚀过程,评估电子元件和电路板在这种恶劣条件下的性能变化,包括电气性能、物理性能和外观变化,从而确定其在高湿度和压力环境下的可靠性和耐久性,为产品设计和质量改进提供依据。

二、实验设备与材料


  1. 高温高压环境试验箱:能够精确控制温度(30℃ - 120℃)、压力(0.2 - 2MPa)和湿度(70% - 98% RH),且温度波动控制在 ±2℃,压力波动控制在 ±0.05MPa,湿度波动控制在 ±3% RH,可稳定运行,以保证实验环境的准确性和一致性。

  2. 电子元件和电路板样本:

    • 电子元件:选取不同类型(如电阻、电容、芯片等)、不同封装形式(如 SMD、DIP 等)和不同厂家生产的电子元件,每种元件准备 10 个。

    • 电路板:准备多种不同层数(如双面板、四层板等)、不同布线密度和不同表面处理工艺(如喷锡、镀金等)的电路板,电路板上应焊接有各种类型的电子元件,形成完整的电路功能,每种电路板准备 5 块。

  3. 测试仪器:

    • 数字万用表:用于测量电子元件和电路板的电阻、电容、电压等基本电气参数,测量精度为 ±0.01%。

    • 绝缘电阻测试仪:检测电路板的绝缘电阻,测量范围为 10³Ω - 10¹²Ω,精度为 ±5%。

    • 示波器:观察电路信号的波形和频率,以评估电子元件和电路板的电气性能,带宽不低于 100MHz。

    • 扫描电子显微镜(SEM):观察电子元件和电路板在实验前后的微观结构变化,分辨率可达 1nm。

    • 光学显微镜:用于检查电子元件和电路板表面的宏观变化,如腐蚀、起泡、变色等,放大倍数可达 1000 倍。

三、实验参数设置


  1. 温度参数:

    • 设置三个温度水平:60℃、80℃和 100℃,这些温度能够加速水分对电子元件和电路板的侵蚀作用,模拟高温高湿环境下可能出现的温度情况,如电子设备在高温环境中的局部发热或恶劣的工业环境温度。

  2. 压力参数:

    • 压力设定为 0.5MPa、1MPa 和 1.5MPa,模拟不同深度水下设备或高海拔地区电子设备在工作或运输过程中可能承受的压力,同时压力变化会影响水分在电子元件和电路板中的渗透速度和分布。

  3. 湿度参数:

    • 湿度设置为 85% RH、92% RH 和 98% RH,以创造高湿度环境,加速水分对电子元件和电路板的侵蚀,如模拟热带地区、海洋环境或潮湿的工业环境。

  4. 试验时间:

    • 试验时间分别设定为 24、48、72 和 96 小时,通过不同时长的实验观察电子元件和电路板性能随时间的变化情况。

四、实验步骤


  1. 样本准备

    • 对每个电子元件和电路板样本编号,并使用数字万用表、绝缘电阻测试仪和示波器等仪器测量并记录它们的初始电气参数,包括电阻值、电容值、电压值、绝缘电阻、信号波形和频率等。使用扫描电子显微镜和光学显微镜观察并记录电子元件和电路板的初始微观结构和外观状态。

    • 将电子元件和电路板样本放置在高温高压环境试验箱内的样品架上,确保样本放置稳定且不相互接触,保证每个样本所处的高温、高压、高湿度环境均匀一致。

  2. 实验过程

    • 根据设定的温度、压力、湿度参数和试验时间启动高温高压环境试验箱。例如,先将温度设置为 60℃、压力为 0.5MPa、湿度为 85% RH,当环境稳定后开始计时,进行 24 小时的试验,然后取出电子元件和电路板样本进行测试;接着在相同参数下继续试验至 48、72 和 96 小时后分别取出样本进行测试。以同样的方式对其他温度、压力、湿度组合进行实验。

  3. 性能测试

    • 电气性能测试:使用数字万用表、绝缘电阻测试仪和示波器再次测量电子元件和电路板的电气参数,与初始值对比,分析电阻、电容、电压、绝缘电阻、信号波形和频率等参数的变化情况,判断电子元件和电路板的电气性能是否受到影响。

    • 微观结构观察:使用扫描电子显微镜观察电子元件和电路板的微观结构变化,如焊点是否开裂、金属引脚是否腐蚀、电路板的内层是否出现分层等现象,并分析这些变化对其性能的影响。

    • 外观检查:通过光学显微镜检查电子元件和电路板表面的宏观变化,如是否有腐蚀斑点、起泡、变色、元件脱落等情况,记录外观变化的程度和范围。

五、数据分析与结果呈现


  1. 数据记录

    • 详细记录每个电子元件和电路板样本在不同温度、压力、湿度和试验时间下的电气参数数据、微观结构观察结果和外观检查情况。

  2. 数据分析

    • 绘制电子元件和电路板的电气参数(电阻、电容、电压、绝缘电阻、信号频率等)随试验时间、温度、压力和湿度变化的曲线,分析变化趋势和规律。

    • 对微观结构观察结果进行图像分析,统计微观缺陷(如焊点开裂数量、腐蚀区域面积等)的变化情况,结合外观检查结果,探讨高温高压高湿度环境对电子元件和电路板性能的影响机制。

  3. 结果报告

    • 以图表和文字相结合的形式呈现实验结果,包括电气性能变化图、微观结构图像和外观检查情况描述。

    • 根据实验结果,对电子元件和电路板在高温高压高湿度环境下的可靠性进行综合评价,为电子设备的设计、选材、防护措施和质量控制提出建议,例如建议在高湿度和压力环境下使用具有特定封装形式或防护涂层的电子元件。


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标签:高温老化箱高温烤箱供应高温老化试验箱

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