利用高温高压环境试验箱模拟环境,加速水分对电子元件和电路板的侵蚀过程,评估电子元件和电路板在这种恶劣条件下的性能变化,包括电气性能、物理性能和外观变化,从而确定其在高湿度和压力环境下的可靠性和耐久性,为产品设计和质量改进提供依据。
高温高压环境试验箱:能够精确控制温度(30℃ - 120℃)、压力(0.2 - 2MPa)和湿度(70% - 98% RH),且温度波动控制在 ±2℃,压力波动控制在 ±0.05MPa,湿度波动控制在 ±3% RH,可稳定运行,以保证实验环境的准确性和一致性。
电子元件和电路板样本:
测试仪器:
数字万用表:用于测量电子元件和电路板的电阻、电容、电压等基本电气参数,测量精度为 ±0.01%。
绝缘电阻测试仪:检测电路板的绝缘电阻,测量范围为 10³Ω - 10¹²Ω,精度为 ±5%。
示波器:观察电路信号的波形和频率,以评估电子元件和电路板的电气性能,带宽不低于 100MHz。
扫描电子显微镜(SEM):观察电子元件和电路板在实验前后的微观结构变化,分辨率可达 1nm。
光学显微镜:用于检查电子元件和电路板表面的宏观变化,如腐蚀、起泡、变色等,放大倍数可达 1000 倍。
温度参数:
压力参数:
湿度参数:
试验时间:
样本准备
实验过程
性能测试
电气性能测试:使用数字万用表、绝缘电阻测试仪和示波器再次测量电子元件和电路板的电气参数,与初始值对比,分析电阻、电容、电压、绝缘电阻、信号波形和频率等参数的变化情况,判断电子元件和电路板的电气性能是否受到影响。
微观结构观察:使用扫描电子显微镜观察电子元件和电路板的微观结构变化,如焊点是否开裂、金属引脚是否腐蚀、电路板的内层是否出现分层等现象,并分析这些变化对其性能的影响。
外观检查:通过光学显微镜检查电子元件和电路板表面的宏观变化,如是否有腐蚀斑点、起泡、变色、元件脱落等情况,记录外观变化的程度和范围。
数据记录
数据分析
结果报告

标签:高温老化箱高温烤箱供应高温老化试验箱
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