SediGraph 粒度仪 X-射线安全信息

SediGraph 粒度仪采用柔软的 X 射线检测颗粒的相对浓度,它的主要原理是利用颗粒对 X 射线的吸收量,正比于颗粒质量 X 射线无论何时都无法照射到仪器的操作者,做到此取决于仪器内部的设计:测量室门的密封和开闭特性 一个机械快门机构,当门被轻微打开 12 毫米时,立刻会激发机械快门遮挡住 X 射线进入测量室;同时仪器装配的若干电子自锁机构,用于切断 X 射线源的供电每当测量室门,仪器盖板被打开时,立刻发挥作用 全自动X光沉降粒度分析仪