2025-01-10 17:02:53FIB SEM

FIB SEM，即聚焦离子束扫描电子显微镜，是一种集聚焦离子束刻蚀（FIB）与扫描电子显微镜（SEM）功能于一体的高端分析仪器。它利用聚焦的高能离子束对样品进行微纳加工，如切割、沉积和刻蚀等，同时可通过SEM观察样品的表面形貌和结构特征。FIB SEM在材料科学、半导体研究、生物医学等领域有广泛应用，可实现高精度的样品制备和原位分析，为科研和工业生产提供强大的技术支持。

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