- 2025-01-21 09:32:52天线近场测试系统
- 天线近场测试系统是一种用于评估天线性能的测试设备。它通过在近场区域测量天线的辐射场，利用数学变换算法推算出远场辐射特性，如方向图、增益、极化等。该系统具有高精度、高效率及可重复性好的优点，适用于各类天线（如雷达、通信、卫星等）的研发、生产及质量检测。通过模拟不同环境条件下的测试场景，该系统能全面评估天线的适应性和稳定性，是天线研发与测试领域的重要工具。
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天线近场测试系统资讯
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北京创诚致佳科技有限公司
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- N5264B 用于天线测试的 PNA-X 测量接收机ZL
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深圳市达瑞博电子有限公司
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天线近场测试系统问答
- 2025-05-27 11:30:23GPS接收机天线增益有关系吗
- GPS接收机天线增益有关系吗？ 在现代卫星导航技术中，GPS接收机的性能直接受到多个因素的影响，而天线增益作为关键参数之一，常常被忽视。天线增益是指天线在某一方向上的辐射能力相对于一个理想的无方向性天线的能力。在GPS接收机中，天线增益的高低与接收信号的强度和精度密切相关，进而影响定位的准确性和可靠性。本文将深入探讨GPS接收机天线增益的作用，分析其对系统性能的影响，并解答是否天线增益对GPS接收机的工作有着不可忽视的关系。 天线增益对GPS接收机性能的影响 天线增益的核心作用是通过增强接收到的信号强度，提高GPS接收机的接收能力。在GPS信号传播过程中，信号经过空气和大气层等环境因素的影响，往往会出现信号衰减或干扰现象。这时，具有较高增益的天线能够有效集中信号接收方向，从而减轻这些干扰并提高信号的强度。这种增强的信号强度能够帮助接收机更精确地获取卫星数据，进而提高定位精度和稳定性。 天线增益并非越大越好。天线增益过高可能导致接收方向过于狭窄，使得接收范围缩小，特别是在卫星信号条件较差的情况下，过高的增益反而可能使得接收机无法及时捕捉到足够数量的卫星信号，影响定位性能。因此，在选择GPS天线时，合理的增益设置至关重要。 不同环境对天线增益的需求 GPS信号的接收质量与环境密切相关。在开阔的户外环境中，GPS接收机会接收到来自多个方向的卫星信号，因此，在这种情况下，天线增益不宜过高。适中的增益可以保证天线在多个方向上的信号接收，同时避免不必要的干扰。 相比之下，在城市高楼林立的环境中，建筑物的遮挡和多路径效应常常导致GPS信号接收困难。在这种环境下，选择高增益的天线可以增强接收方向的信号强度，提高定位的稳定性和准确性。对于车载GPS系统，由于车辆的运动和外部环境的变化，天线增益的选择也应根据实际情况做出优化调整。 总结 综合来看，GPS接收机天线增益对定位精度有着显著影响，但并不是越高越好。合适的天线增益能够有效提升接收信号的质量，减少干扰并提高定位精度。在选择GPS天线时，需根据使用环境、接收需求以及定位精度要求，综合考虑天线的增益特性，以实现佳的性能表现。
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- 2023-07-07 11:24:21安泰测试Agitek-9812DX低频噪声测试系统产品介绍
- 9812DX作为单一完整的低频噪声测试系统，支持多种半导体器件类型在各种工作条件下（如200V高压、10pA极低电流等）的高精度噪声测试。通过低频噪声测试，可以帮助芯片制造厂检测和排除工艺制造缺陷，确保芯片质量符合预期，提高芯片稳定性。晶圆级噪声测试精度和高测试带宽，最低测试噪声的电流精度低至10-27A2/Hz。典型噪声测试速度提高至一个偏置条件仅需20s、最高测试电压提高到200V。通过并行测试架构解决方案以及协同FS-Pro半导体参数测试系统等方式大幅度提高测试效率和吞吐量。用于28/14/10/7/5/3nm等各工艺节点的先进工艺研发和高端集成电路设计。内置功能强大的NoiseProPlus软件，支持1/f噪声、RTN噪声测试和数据分析。产品亮点：行业黄金标准：半导体行业低频噪声测试“黄金标准”系统广泛采用：已被众多行业领先半导体公司所采用的标准测试系统并行测试：经头部客户验证的高精度、高测试吞吐率并行测试能力宽量程：晶圆级高精度和测试带宽宽电压、宽电流、宽阻抗测量范围系统架构：系统体系架构经行业认可并不断完善兼具高精度和可靠性覆盖广泛：同时覆盖从10Ω到10MΩ的高阻抗器件和低阻抗器件测试能力技术参数：宽量程： 最大器件端电压和电流 : 200V, 200mA高精度： 最高 DC 电流精度 : 10pA、 系统噪声电流精度 :
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- 2023-11-13 16:09:42TNP6Gx近场探头组件包括2个磁场探头和2个电场探头
- TTNP6Gx近场探头组件包括2个磁场探头和2个电场探头这款组件用于配合TSA/VSA系列USB微型频谱仪进行电子产品的EMC/EMI测试特点：直接连接USB微型频谱分析仪包括E型场强探头和H型场强探头使用小尺寸探头可以捕捉到本地辐射的每个发射源和信号踪迹重量极轻，易于手持操作高灵敏度，不需增加前置放大器EMC测试的理想工具产品编号工作类型频率范围共振频率上限尺寸接口类型TNP6Gx-1H型磁场强度10MHz~6GHz2.5GHz40mm直径环形50欧姆SMA公头TNP6Gx-2H型磁场强度10MHz~6GHz5GHz15mm直径环形50欧姆SMA公头TNP6Gx-3E型电场强度1GHz~12GHz5GHz10mm直径弯头50欧姆SMA公头TNP6Gx-4E型电场强度1GHz~12GHz5GHz5mm直径直头50欧姆SMA公头
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- 2022-01-07 17:42:27知用近场探头在辐射干扰源定位测试的应用
- 如果一个新产品在电磁干扰（EMI）预兼容测试或者标准兼容测试中失败，进行故障诊断和改进是当务之急。西安普科科技PRBTEK在经过多方面选择过程中，了解到知用有一套完整的测试方案，知用接收机和知用近场探头就可以查找干扰源，完成辐射干扰源定位测试。一、推荐设备：知用接收机EM5080B+知用近场探头EM5030 系列近场探头产品图接收机产品图二、辐射干扰源定位测试示意图：三、知用近场探头规格：EM5030/EM5030LF 系列探头组包含了 7 个专门用来测试磁场（H）探头，它有效地屏蔽了电场干扰（E），主要用于电磁兼容整改时定位干扰源的近场探头。 EM5030 的频率范围是 30MHz-3GHz，共4 种探头形状； EM5030LF 的频率范围是 9kHz-50MHz，共 3 种探头形状。EM5030E 系列探头组包含了 2 个专门用来测试电场(E)的探头，覆盖频率范围为 30MHz 到 3GHz，主要应用于查找电场干扰源，除了探头其他部分均为屏蔽设计。
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- 2023-07-07 11:25:23FS-Pro 半导体参数测试系统产品介绍-安泰测Agitek
- S-Pro 半导体参数测试系统是一款功能全面、配置灵活的半导体器件电学特性分析设备，在一个系统中实现了电流电压 (IV) 测试、电容电压 (CV) 测试、脉冲式 IV 测试、任意线性波形发生与测量、高速时域信号釆集以及低频噪声测试能力。几乎所有半导体器件的低频特性表征都可以在 FS-Pro 测试系统中完成。其全面而强大的参数测试分析能力极大地加速了半导体器件与工艺的研发和评估进程，并可与概伦 9812 系列噪声测试系统无缝集成，其快速 DC 测试能力进一步提升了 9812 系列产品的噪声测试效率。FS-Pro 釆用工业通用的 PXI 模块化硬件架构，系统扩展性强， 还支持多通道并行测试，可进一步提升测试效率。系统内置专业测试软件 LabExpress 为用户提供了丰富的测试预设和强大的测试功能，可实现非常友好的用户即插即用体验。FS-Pro 可广泛应用于各种半导体器件、LED 材料、二维材料器 件、金属材料、新型先进材料与器件测试等。基于在产线测试与科研应用方面的优异表现，FS-Pro 不仅被众 多芯片设计公司和代工厂、IDM 公司釆用，其全面的测试能力更在科研学术界受到了广泛关注和认可，目前已被数十所国内外高校及科学研究机构所选用。应用范围：被半导体工业界和众多知名大学及科研机构釆用作为标准测试仪器集成功能：高速高精度 IV/CV测试能力脉冲式 IV测试能力任意线性波形发生与测量能力高速时域信号釆集能力与 9812 对准的低频噪声测试能力使用方式：通过内置专业软件 LabExpress 的丰富功能实现测试操作简单灵活，无需编程即可实现自由的波形发生或电压同步与跟随系统架构：PXI标准机箱，可扩展架构,支持通过多机箱扩展SMU卡数量支持并行测试：内置功能强大的测试算法支持多通道并行测试成倍提升测试效率硬件规格：宽量程：200V 电压，1A 直流电流高精度：30fA 精度，0.1fA 灵敏度噪声测试带宽：高精度最高 100kHz，超低频最高 40Hz噪声测试速度：
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