- 2025-01-21 09:30:22飞纳电镜能谱一体机
- 飞纳电镜能谱一体机是集扫描电子显微镜（SEM）与能谱分析仪（EDS）于一体的综合性分析设备。它利用SEM的高分辨率成像技术，可实现对样品表面微观形貌的精细观察；同时，EDS模块能迅速分析样品表面的元素组成及分布，提供定量与定性的化学成分信息。该一体机操作简便、分析快速准确，广泛应用于材料科学、生物医学、地质学等领域，是研究材料微观结构与成分不可或缺的重要工具。
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飞纳电镜能谱一体机问答
- 2023-06-21 14:21:22飞纳电镜线下用户培训会 —— 广州站
- 飞纳电镜第三场线下用户培训会要来广州啦！本次培训会诚挚邀请各位用户朋友们来到飞纳电镜最 佳 Demo 室——广州国际生物岛，让我们一起开启为期两天的电镜培训之旅吧！* 若有时间冲突，请于培训开始前告知。培训·流程6月29日6月30日期待您的到来！
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- 2023-06-08 17:52:34邀请函｜飞纳电镜邀您参加微纳科技与先进材料创新大会 2023
- 复纳INVITATION微纳科技与先进材料创新大会（2023）将于 6 月 10 日 - 12 日在重庆举办。本次会议旨在凝聚优势力量、加强纳米科学与微纳制造技术的基础研究与应用研究，促进多学科交叉融合，促进先进材料产业化的发展。时间：2023 年 6 月 10 日 - 12 日地点：重庆两江云顶大酒店复纳科技展位号：7 号新兴的微纳材料在电子、通信和物联网、能源存储、化工和燃料生产、医疗保健、药物输送等领域应用广泛。纳米材料的性质与其组成和表面形貌有很大的关系，复纳科技拥有一系列高精尖的分析检测仪器与先进的解决方案，可以对纳米材料进行分析表征和改性。欢迎各位老师同行莅临【7】号展位，和我们一起探讨交流！庄思濛 复纳科技产品经理报告时间：6月12日 16:05-16:25本次会议中，复纳科技产品经理庄思濛将在“微纳技术在新能源电池领域中的应用技术”分会场带来《电池粉末原子层沉积包覆改性及原位电镜表征方案》的主题报告。1、Phenom-飞纳台式扫描电镜飞纳台式扫描电镜操作简单，效率高，成像质量高，其优异的低真空模式可实现无需喷金直接观察不导电样品。最 新的第二代场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2 分辨率优于 1.5nm，是分辨率最 高的台式扫描电镜，是纳米材料表征的强有力工具。Phenom Pharos G2飞纳台式场发射扫描电镜Phenom XL G2飞纳台式扫描电镜大样品室卓 越版Phenom ProX飞纳台式扫描电镜能谱一体机2、Forge Nano-原子层沉积系统ALD 原子层沉积技术已被证明可用于多种组分以及纳米结构的制备，包括单原子 / 团簇催化剂、锂电材料表面包覆等等。Forge Nano 设备基于 ALD 工艺可实现从毫克到千吨级的粉末包覆处理量，能够有效提高电池化学性能与安全性。3、DENSsolutions-TEM 原位实验方案DENS 产品可以为 TEM 样品施加外界刺激，实现在 TEM 中引入气、液、热、电等多种条件，捕捉 TEM 样品在真实环境下的动态现象。目前提供的四种原位实验方案：Wildfire TEM 原位加热方案、Lightning TEM 原位热电方案、Climate TEM 原位气相加热方案和 Stream TEM 原位液相加热 / 加电方案。Wildfire 原位加热样品杆Lightning 原位热电样品杆Lightning 原位热电样品杆Stream 原位液相加热/加电样品杆Climate 原位气相加热样品杆4、VSParticle-全自动纳米研究平台VSParticle 设备采用火花烧蚀制备纳米颗粒的技术，可对产生的颗粒进行粒径的控制，从而获得不同粒径中位值的单分散纳米气溶胶。此外该技术也能用于进行快速打印以及粉末表面的纳米沉积。欢迎各位老师莅临展位与我们探讨交流，我们将随时为您提供专业的解答与支持，现场也有精美小礼品相送噢！
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- 2023-06-08 16:04:39邀请函｜飞纳电镜邀您共赴西北五省第十三届电镜学术交流及技术研讨会！
- 会议邀请 “西北五省第十三届电镜学术交流及技术研讨会”将于 2023 年 6 月 9 日 - 12 日在甘肃省兰州市兰州大学举办。此次会议是西北五省规模最 大、影响力最 强的电子显微学盛会。本次会议将采用会前培训、会议中专家报告、学术座谈、厂商报告和厂家现场设备使用技术培训形式。专家学者将齐聚一堂，共赴这场电镜盛会。会议时间：2023 年 6 月 9 日 - 12 日会议地点：兰州大学电镜中心复纳科技致力于为实验室样品制备与检测提供智能、高效、可靠的高科技解决方案。其中飞纳台式扫描电镜作为全 球 领 先的桌面式扫描电镜，凭借操作简单、成像质量高和效率高等优势成为众多研究人员的选择。在本次会议中，我们也将现场展示飞纳电镜能谱一体机 ProX，由工程师现场开展电镜技能培训与问题答疑，欢迎大家前来上机测试。会议报告/ FUNA本次会议中，复纳科技产品经理万正宇将带来“DENSsolutions 基于 MEMS 的原位透射电镜技术发展 ＆ STEM 在飞纳台式电镜上的应用”主题报告，为大家分享最 新的原位实验方案与 STEM 表征。欢迎各位专家老师和我们一起探讨交流！01Pharos - STEM作为全 球 唯 一台式场发射 Pharos-STEM 电子显微镜，在较低的加速电压下，可减少电子束对样品的损伤，显著提高了图像的衬度。Pharos STEM 电子显微镜，利用 FEG 高亮度电子源，可在透射模式下对薄样品进行成像。专用的样品夹可轻松装载常规 3mm 直径透射电镜 (TEM) 载网，实现样品的快速、安全切换。STEM 样品杯可提供明场 (BF) 、暗场 (DF) 和高角度环形暗场 (HAADF) 像，并支持自定义选择成像模式。02DENSsolutionsDENS 产品可以为原位 TEM 样品施加外界刺激，捕捉 TEM 样品在真实环境下的动态现象。目前提供的四种原位实验方案：Wildfire TEM 原位加热方案、Lightning TEM 原位热电方案、Climate TEM 原位气相加热方案和 Stream TEM 原位液相加热 / 加电方案，已经可以在 TEM 中引入气、液、热、电等多种状态。03Technoorg Linda复纳科技拥有 Technoorg Linda 离子研磨仪，采用离子束技术，可对样品进行快速研磨及表面精细加工和最 终抛光。是 SEM / TEM 样品表面处理的有力工具。04NEOSCANNeoscan 台式显微 CT 采用先进 X 射线成像技术，分辨率高，对场地要求少，紧凑便携，适用于实验室和研究机构日常使用。欢迎各位老师莅临展位与我们探讨交流，我们随时为您提供专业的解答与支持，现场也有精美小礼品相送噢！
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- 2023-06-15 10:00:09邀请函｜飞纳电镜邀您参加 2023 第六届汽车零部件清洁度控制技术峰会
- 2023 年 6 月 15 - 16 日，行业瞩目的第六届汽车零部件清洁度控制技术峰会将在宁波举办。本次峰会是一场汽车零部件行业的重要盛事，旨在推动清洁度控制技术的创新和应用，搭建行业交流平台，加强行业间的合作。此次峰会的参与群体广泛，与会者将包括业内的专家学者、技术研发人员、质量管理专家以及行业领军企业的代表，共同探讨汽车零部件清洁度控制技术的最 新趋势、挑战和解决方案。时间：2023 年 6 月 15 日 - 16 日地点：宁波北仑世茂希尔顿逸林酒店清洁度一般指汽车零件、总成及整机等部位被颗粒物污染的程度，用规定的方法从特定的部件采集到颗粒物的质量、大小、形状、数量、材料种类等特征参数来表征。具体采用何种方法及指标对颗粒物进行测试分析，取决于不同颗粒物对部件性能的影响程度及清洁度控制精度要求。飞纳电镜产品经理刘晓龙本次会议中，飞纳电镜产品经理刘晓龙将带来“动力电池中各类金属异物的影响及其检测方法”的主题报告，为大家分享飞纳在清洁度检测的最 新解决方案。报告时间：2023 年 6 月 16 日上午 09:30-10:00飞纳 ParticleX 全自动汽车清洁度分析系统，以扫描电镜和能谱仪为硬件基础，可以全自动对颗粒或杂质进行快速识别、分析和分类统计，允许工程师看见微米尺寸的颗粒并确定其化学成分，从而判断出污染源，为客户的研发以及生产提供快速、准确和可靠的定量数据支持。该过程完全符合 ISO 16232 和 VDA 19 要求。只需一键，即可自动分析 4 片直径 47mm 的滤膜，无需人员值守，可连续运行，并且一键生成报告，更有效率地监控过程清洁度。ParticleX汽车清洁度分析在传统燃油汽车领域，硬度较高的颗粒物（如Al2O3、SiO2 等）危害性更大，因此受到各大主机厂商的特别关注，在其清洁度检测标准中，往往把硬质颗粒物作为第 一优先关注点。从燃油汽车到电动汽车，电池成本占到整车成本的 30% 以上，清洁度检测的关注点也发生了改变。对动力电池生产来说，金属异物（如铜、锌、铁、铬、镍等）会导致电池短路，有极大的安全隐患，需要严格管控和自动快速的检测方法。ParticleX Battery
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- 2023-06-27 14:22:52邀请函｜相约上海，飞纳电镜邀您共聚 SEMICON CHINA 2023 上海国际半导体展
- SEMICON CHINA 2023 将于 6 月 29 日 - 7 月 1 日在上海新国际博览中心盛大召开。这是一个覆盖芯片设计、制造、封测、设备、材料、光伏、显示等全产业链携手合作，全 球规模最 大、最 具影响力的半导体专业展。来自五湖 四海的专家学者将齐聚一堂，共赴这场半导体嘉年华！时间2023 年 6 月 29 日 - 7 月 1 日地点上海新国际博览中心展位：E2 馆 E2549 号半导体材料一直以来都是芯片制造的“基石”，是推动集成电路产业发展创新的重要基础。不管是制造还是封测，半导体材料几乎贯穿整个集成电路制造过程。硅是今天最常用的半导体材料，其他还有各种复合半导体材料。应对如此多样的材料以及复杂的工艺，需要耗费大量时间精力。飞纳电镜可以满足多样化的材料检测需求以及复杂的制程工艺管控，可以实现缺陷和形貌观察以及物性失效分析，为您提供高效、简单、精确的半导体解决方案，帮助您提升工艺良率。现场也将有 Phenom XL G2 大样品室卓 越版展出，欢迎各位老师莅临【E2 馆 E2549 号】展台测试，共同探讨交流。应用案例IC 封装测试失效分析1、对失效位置进行切割2、离子研磨仪中进行切割3、位置1. 放大后发现此处未连接4、位置2. 放大后发现此处开裂
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