- 2025-01-10 17:04:05纳米粒度及
- “纳米粒度及”通常指的是纳米颗粒的粒度分析,即测量纳米级颗粒的大小分布。粒度是纳米材料的重要物理参数,直接影响其光学、电学、磁学等性能。纳米粒度分析技术包括动态光散射、激光衍射、电子显微镜等多种方法,可精确测定颗粒的粒径范围、分布形态等。这些技术广泛应用于新材料研发、药物递送、环境保护等领域,为科研和工业生产提供关键数据支持。
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纳米粒度及问答
- 2023-04-20 09:37:22BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及 Zeta
- BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及 Zeta 电位分析仪BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及 Zeta 电位分析仪——背向 + 90°散射粒度 + Zeta 电位三合一型仪 器 简 介BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及Zeta电位分析仪是BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的顶 级光学检测系统。该系统中集成了背向 +90°动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS和静态光散射技术 SLS,可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布,Zeta 电位,高分子和蛋白体系的分子量信息等参数,可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。指标与性能Index&performance粒径测试原理:动态光散射技术粒径范围:0.3 nm – 15 μm样品量:3 μL - 1 mL检测角度:173°+90°+12°分析算法:Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLSZeta电位测试原理:相位分析光散射技术检测角度:12°Zeta范围:无实际限制电泳迁移率范围:> ±20 μ.cm/V.s电导率范围:0 - 260 mS/cmZeta测试粒径范围:2 nm – 110 μm分子量测试分子量范围:342 Da – 2 x 107 Da微流变测试频率范围:0.2 – 1.3 x 107 rad/s测试能力:均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量粘度和折光率测试粘度范围:0.01 cp – 100 cp折光率范围:1.3-1.6趋势测试模式:时间和温度系统参数温控范围:-15° C - 110° C+/- 0.1°C冷凝控制:干燥空气或者氮气标准激光光源:50 mW 高性能固体激光器, 671 nm相关器:最快25 ns采样,最多 4000 通道,1011 动态线性范围检测器:APD (高性能雪崩光电二极管)光强控制:0.0001% - 100%,手动或自动软件中文和英文符合21CFR Part 11原理图仪器检测检测参数颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布颗粒体系的 Zeta 电位及其分布分子量分布系数 PD.I扩散系数 D流体力学直径 D H颗粒间相互作用力因子 k D溶液粘度检测技术动态光散射电泳光散射静态光散射
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- 2022-11-22 20:15:28BeNano 90 Zeta 纳米粒度及 Zeta 电位仪
- BeNano 90 Zeta 纳米粒度及 Zeta 电位仪——90°散射粒度 + Zeta 电位二合一型 仪 器 简 介 BeNano 90 Zeta 纳 米 粒 度 及 Zeta 电 位 仪 是 BeNano 90 +BeNano Zeta 二合一的光学检测系统。该系统中集成了动态光散 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS,可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布,Zeta 电位,高分子和蛋白体系的分子量信息等参数,可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。指标与性能粒径测试粒径范围:0.3 nm – 15 μm*样品量:3 μL – 1 mL*检测角度:90 ° & 12°分析算法:Cumulants、通用模式、CONTIN Zeta 电位测试技术:相位分析光散射检测角度:12°Zeta 范围:无实际限制电泳迁移率范围:> ±20 μm.cm/v.s电导率范围:0 – 260 mS/cm最小样品量:0.75 mL – 1.0 mLZeta 测试粒径范围:2 nm – 110 μm 分子量测试分子量范围:342 Da – 2 x 10 7 Da* 趋势测量模式:时间和温度 粘度测试粘度范围:0.01 cp – 100 cp* 系统参数温控范围:-10° C - 110° C,精度 ±0.1° C激光光源:50 mW 高性能固体激光器, 671 nm相关器:最多 4000 通道,1011 动态线性范围检测器:APD ,高性能雪崩光电二极管光强控制:0.0001% - 100%,手动或自动*取决于样品和选件原理图仪器检测检测参数颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布颗粒体系的 Zeta 电位及其分布分子量分布系数 PD.I扩散系数 D流体力学直径 D H颗粒间相互作用力因子 k D溶液粘度 检测技术动态光散射电泳光散射相位分析光散射静态光散射
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- 2022-03-10 13:56:13NS-90Z丨纳米粒度及电位分析仪
- NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪产品介绍NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪是珠海欧美克仪器有限公司在成功引进和吸收马尔文帕纳科公司(Malvern Panalytical)纳米颗粒表征技术后,在NS-90纳米粒度分析仪基础上进一步增加zeta电位测试功能而推出的新一款产品。NS-90Z具有优越的粒度和电位分析功能,能满足广大纳米材料、制剂开发和生产用户的颗粒粒度和表面电位的测试需求。该仪器使用电泳光散射技术测定zeta电位,动态光散射技术测量粒子和分子粒度,以及静态光散射技术测定蛋白质与聚合物的分子量。NS-90Z融合马尔文帕纳科M3-PALS相位分析检测技术,并广泛采用全 球化供应链的优质光电部件,例如进口雪崩式光电二极管(APD)检测器和He-Ne气体激光器等,加上精确的内部温控技术、密闭光纤光路以及先进软件算法,保障了数据的高重复性、准确性和灵敏度,使该型号仪器可以分析宽广的粒径、浓度及电位范围的样品。NS-90Z同时支持SOP标准操作,以及测量数据智能评估,方便用户使用。技术指标【粒径】测量范围:0.3nm – 5000nm(以样品为准)测量原理:动态光散射法重复性误差:<1%(NIST可追溯胶乳标样)最小样品容积:20µL最小样品浓度:0.1mg/mL (以样品为准)【分子量】分子量测量范围:342 Da – 2×107 Da , 由流体动力学直径估算(动态光散射)分子量测量范围:9800 Da – 2×107 Da , 由德拜图计算 (静态光散射)测量原理:动态光散射,静态光散射最小样品容积:20µL(需要3-5种样品浓度)【Zeta电位】测量原理:电泳光散射灵敏度:10mg/mL 66kDa 蛋白质Zeta 电位范围:>+500mV / <-500mV电泳速度范围:>+20μ.cm/V.s / <-20μ.cm/V.s最 高样品浓度:40% w/v (以样品为准)最小样品容积:20μL最 高电导率:200mS/cm检测技术:M3-PALS【系统参数】检测角度:90。+13。激光光源:高稳定He-Ne 激光器,波长633nm,功率 4mW。激光安全:1类,符合CDRH 和 CE 标准检测器:雪崩式光电二极管(APD)检测器,QE>50%相关器:采样时间25ns – 8000s,4000通道,1011动态线性范围冷凝控制方法:干燥空气吹扫(需外接气源)温度控制范围:0° – 90°C温度控制精度:± 0.1°C电源:AC 90 – 240V, 50 – 60Hz功率:50W典型应用• 胶体和乳液表征• 药物分散体和乳液• 脂质体和囊泡• 粒子和表面的 Zeta 电位• 墨水、碳粉和颜料性能改进• 优化水处理中絮凝剂的用量以降低水处理成本• 缩短稳定分散体和蛋白质溶液的开发时间• 了解产品稳定或不稳定的原因,提高产品保质期• 防止形成蛋白质聚集体• 增加蛋白质浓度时保持稳定性
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- 2022-04-18 14:01:37纳米粒度及zeta电位分析仪可以应用在哪些行业
- 一.纳米粒度及zeta电位分析仪的介绍梓梦科技的ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪是三合一的光学检测系统,该系统集成了动态光散射 DLS电泳光散射ELS和静态光散射技术 SLS,可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布,Zeta电位,高分子和蛋白体系的分子量信息等参数。其中动态光散射法是用于测量粒度及分子大小;该技术可测量布郎运动下移动颗粒的扩散情况,使用光子探测器在固定的角度采集散射光,通过相关器进行自相关运算得到相关函数,再经过数学反演获得颗粒粒径信息;Zeta电位测量是分子和颗粒在施加的电场作用下做电泳运动,其运动速度和zeta电位直接相关,Zeta电位与电泳迁移率关系遵循herry方程,通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位;静态光散射法用于确定蛋白质与聚合物的分子量。在此检测方法中,检测不同浓度下样品的散射光强,并且绘制曲线,由此可计算出平均分子量及第二维里系数,从而得到分子溶解程度。二.纳米粒度及zeta电位分析仪的应用行业纳米粒度及zeta电位分析仪广泛应用于纳米材料,生物医药,精细化工,油漆涂料,食品药品,航空航天,国防科技等行业。在纳米材料方面主要是用于研究纳米金属氧化物,纳米金属粉,纳米陶瓷材料的粒度对材料性能的影响;生物医药方面主要是分析从蛋白质,DNA,RNA,病毒,道各种抗原抗体的粒度;精细化工方面主要是用于寻找纳米催化剂的最佳粒度分布,以降低化学反应温度,提高反应速度;油漆涂料方面主要是用于测量油漆,涂料,硅胶,聚合物胶乳,颜料,油墨,水/油乳液,调色剂,化妆品等样品中纳米颗粒物的粒径;食品药品方面主要用于药物表面包覆盖纳米微粒可使其高效缓释,并可以制成靶的药物,可用来控制药物粒度的大小,以便更好的发挥药物的疗效;航空航天方面主要用于纳米金属粉添加到火箭固体推进剂中,可以显著改进推进剂燃烧性能,可用于研究金属粉的最佳粒度分布;国防科技方面主要用于纳米材料增加电磁能转化为热能的效率,从而提高对电磁波的吸收性能,可以制成电磁波吸波材料,不同粒径纳米材料具有不同的光学特性,可用于研究吸波材料的性能。 纳米粒度及zeta电位分析仪之所以能受广大客户的喜爱,除了它应用的行业广泛之外,纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能,一键式测量,自动调整散射光强, 无需用户干涉,自动优化光子相关器参数,以适应不同样品,让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能,让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行,测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表,以可视化的方式展示测量结果,让测量结果一目了然。
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- 2023-04-25 09:25:28Nicomp® 在线粒度仪用于纳米药物粒度监测
- 在过去的几十年中,纳米医学研究发展迅速,大部分重 点放在药物输送上。纳米颗粒具有降低毒性和副作用等优点,控制这些纳米粒子的大小至关重要。Nicomp系列的大部分粒度测量是在实验室进行的,但现在已经有在生产线中进行粒度测量的产品——Nicomp® 在线粒度仪。本应用说明介绍了 Bind Therapeutics(辉瑞于 2016 年收购的资产)开展的开创性工作,将Nicomp® 在线动态光散射测量纳入其 Accurins® 纳米粒子候选药物的制造过程。引言BIND Therapeutics, Inc. 是一家生物制药公司,开发称为 Accurins(见图 1)的靶向纳米粒子技术,用于治 疗癌症和其他具有大量未满足医疗需求的严重疾病。通过结合控释聚合物系统、靶向和递送大量治 疗药物的能力,Bind 正在为一类新型靶向治 疗开发一个纳米技术支持的平台。图 1. BIND Accurins 技术Accurins 通常是 80-120 nm 的颗粒,由具有活性药物成分 (API) 核心的聚丙交酯聚乙二醇 (PLA-PEG) 共聚物组成。共聚物的 PLA 部分为包封疏水性 API 提供了一个可生物降解的、相对疏水的核心。聚合物的亲水性聚乙二醇酯部分期望覆盖在颗粒的表面,使它们能够逃避网状内皮系统(RES)吞噬细胞的调理和从血液循环中移除。80-120 nm 的大小非常适合通过渗漏的脉管系统(增强的通透性和滞留性,或 EPR 效应)积聚在肿瘤部位,同时避免被脾 脏过滤。80-120 nm也是适合所需理化特性的尺寸,可保持高载药量、控制释放和加工能力,包括最 终无菌过滤和冻干的能力。Accurins 是通过纳米乳液工艺制造的,该工艺使用高压均化来剪切分散在不混溶水相中的有机液滴。控制液滴尺寸对于确定药品的最 终尺寸分布十分重要。许多因素会影响液滴大小,包括原材料属性、颗粒配方、均质机机械性能、水相组成和工艺参数。该批次开始生产后,均质器压力是最容易控制来调节尺寸的过程。BIND 014 是一种 Accurin,开发用于将多西紫杉醇递送至实体瘤和癌细胞,表达前列腺特异性膜抗原 (PSMA)。这里描述的所有实验都是针对 BIND-014 Accurins。在线动态光散射动态光散射 (DLS) 可用于测量亚微米颗粒尺寸,DLS 的工作原理是小颗粒通过布朗运动在流体中随机移动。系统检测到布朗运动引起的平移扩散,然后用于求解 Stokes-Einstein 方程以确定粒子大小(方程 1)。其中: D = 扩散系数 kB = 波尔兹曼常数 η = 粘度 R = 粒子半径Nicomp DLS 已在实验室中成功使用数十年,Nicomp®在线粒度仪也已有了实际应用。Entegris (Nicomp粒度仪生产商)现在已在客户制造业务中安装了多个系统,用于在生产运行期间跟踪颗粒大小。在线系统从过程中取出样品,稀释样品以避免多重散射效应,测量样品,然后重复该过程(见图 2)。完整的测量周期约为 2 分钟,为监控制造操作的工艺工程师提供连续的粒度信息。图 2. DLS 系统简图,带自动稀释实验细节Entegris Nicomp®在线 DLS 系统安装在高压均质器的下游,其设置使其能够每约 2 分钟从工艺流中获取乳液样品。设置 DLS 的射流系统,使乳液样品以与下游 Accurin 过程类似的方式在水中稀释,并在流通池中自动稀释至产生理想光散射强度(~300 kCt/秒)的浓度。此处描述了三个批次: 一个批次由 11 个过程样品和可变压力制成,在整个均质化过程中,以建立压力大小相关性。在工艺条件略有不同的情况下生产的批次导致前两个工艺样品的尺寸略小于目标尺寸。调整压力后,尺寸恢复到最 后四个样品的目标值。临床规模开发批次在以约 5 分钟的间隔采集的八个样本期间展示稳定的尺寸读数,确认压力设定点是合适的。结果第 一个实验(图 3 和图 4)的结果显示了我们预期的压力与尺寸的关系。从趋势线曲线拟合可以看出,尺寸对压力的响应为每 1,000 psig 约 9 nm。图 3. 均质机压力与粒径图 4. 压力与平均尺寸的相关性第二个实验的初始尺寸读数低于目标尺寸约 5–7 nm,因此进行了压力调整(降低 1,000 psig)。在稍后的时间点,平均粒径按预期增加了 ~5–10 nm。图 5. 均质器压力与粒径最后一组数据来自使用在线分级器的第 一个临床规模实验。尽管 BIND 有程序在尺寸超出我们的目标范围时根据需要调整压力,但没有必要这样做。所有八次测量都非常接近 100 nm 目标。图 6. 批处理运行期间的平均大小结论Nicomp® 在线 DLS 系统被集成到 Accurin 制造过程中,用于确定最佳条件并确保在整个批次中粒径在所需规格范围内。进行在线测量可减少进行工艺更改与获取评估更改是否产生预期效果所需的粒度数据之间的滞后时间。此外,与将样品带到实验室进行离线批量分析相比,在线分析可以更好地监控产品质量。在线 DLS 是一种有价值的过程分析技术。
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