电致发光量子效率测量仪HiYield-EL

电致发光量子效率测量仪HiYield-EL是东谱科技 HiOE 综合发光特性测量平台中的重要成员，用于对电致发光样品的发光特性进行精确测量。HiYield 系统能够以精准的检测精度对电致发光器件进行纵深测量，得到全面的测量的电致发光效率参数（量子效率EQE等）以及相关的电学、辐射度学、光度学、色度学等参数；同时该系统集成了稳定性测试模块，可以对器件的老化过程进行测试，且同时得到器件老化过程的全面信息，即涵盖了上述发光效率、电学、辐射度学、光度学、色度学等全面参数（通常的老化测试仪，仅对电流、电压和相对亮度进行测试），典型的包括电致发光效率/量子效率EQE、寿命测试、CIE、CRI、CCT、光谱响应、光谱功率分布、IV、JV、总光谱辐射通量、辐射通量、光通量、光效、光谱强度、峰值波长、FHWM等，广泛应用于各种类型的电致发光器件测量。

HiYield-EL能够以精准的检测精度对电致发光器件进行纵深测量，得到全面的绝对法测量的电致发光效率参数（外量子效率等）以及相关的电学、辐射度学、光度学、色度学等参数；集成了稳定性测试模块，可以对器件的老化过程进行测试，且同时得到器件老化过程的全面信息，即涵盖了上述发光效率、电学、辐射度学、光度学、色度学等全面参数（通常的老化测试仪，仅对电流、电压和相对亮度进行测试）；由软件控制测试过程，操作便捷，图表和数据实时显示；可快速、可靠对样品的测试过程进行追踪；具有实时测量、预测量、定制测量、扫描测量、时间依赖测量等丰富的测量模式。

HiYield-EL测试功能包括效率参数：发光效率/外量子效率EQE、电流效率、功率效率等；电学参数：电压（V）、电流（I）、电流密度（J）、电功率（W）、电功率密度等；辐射度学：光谱功率分布、辐射通量、光通量、光视效能、峰值波长、主波长等； 色度学：CIE 色度坐标、相关色温（CCT）、MK-1（mred）、显色指数（CRI）、RGB 颜色值等；稳定性测试。

包含测量模式：电压扫描（含分段扫描、循环扫描等）、电流扫描（含分段扫描、循环扫描等）、恒压单点测量；、恒流单点测量、稳定性测量：不同老化时间下测量、电致发光、IVL、电致发光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件寿命、发光量子产率测量系统、绝对量子效率、JV、IV、绝对发光量子产率测量系统等。

其广泛应用于量子点发光二极管（QLED）、有机发光二极管（OLED）、发光二极管（LED）、钙钛矿发光二极管（PeLED）、其它各种类型的电致发光器件。