光纤微裂纹检测仪OLI测试范围Z新升级至-100dB

东隆集团自研的光纤微裂纹检测仪OLI其原理是基于白光干涉，可以简单理解为，设备出光光源为白光，该光源分为两路，一路在设备内部作为参考光，一路进入待测器件作为信号光，参考光和信号光在相同光程的地方会发生干涉，且误差在百微米内，这也意味着OLI有着超高的定位精度。OLI读取Z终干涉曲线的峰值大小，精确测量整个扫描范围内的回波损耗，进而判断此测量范围内链路的性能。

今天，小编说的重点是OLI测试范围Z新升级至-100dB，这意味着OLI能探测到光链路中任何高于-100dB的光学信号，且能对该位置进行精确定位。小编针对此次重大升级，见图1所示，让用户更直观感受-100dB的概念。一般工业标准规定，APC接头回损值≥-60dB，PC、UPC接头回损值≥-50dB；实际测试中APC接头法兰对接回损值≥-70dB；光纤和芯片耦合完好回损值≥-70dB。

图1. 实测示意图

图2.是用设备OLI在-100dB测试范围下检测多通道FA端面，OLI外接8通道光开关，开启图3.多通道测试功能并获得的测试结果。

图2. 多通道FA

图3. 8通道测试结果

应用场景

• 光纤微裂纹检测

• 光器件、光模块测量

• 硅光芯片测量

• PLC波导瑕疵损耗检测

• FA光纤阵列链路性能检测

• 光纤连接器插芯检测

主要参数

东隆集团自研的新一代光纤微裂纹检测仪OLIZ新升级后，不仅参数性能进一步提升，而且仪器测量长度已升级为1m，回损测量范围可低至-100dB，欢迎相关用户来电咨询测试。