[自研]光纤微裂纹检测仪测量长度升级至1m是什么概念？

光纤微裂纹检测仪以白光干涉为原理，Z初受限于延时纤的测量长度只能测试6cm，使得测试场景非常局限。经过3年多的技术钻研，在刚刚过去的2022年里，东隆科技研发工程师们攻克了这个难关，在光纤测量长度上实现了二连跳，1月测量长度从Z初的6cm升级至12cm，10月测量长度从12cm升级至40cm。到了2023年年初，光纤微裂纹检测仪测量长度直接升级至1m，快速实现三级跳。然而我们每一次的系统技术优化升级，都是为用户提供更好的产品和服务体验。

本次，光纤微裂纹检测仪测量长度升级到1m,不仅为用户解决匹配跳线、测试繁琐等问题。而且还能更大限度的包容待测样品，并为测试器件留有更大空间，让用户使用起来更便捷。此外，在设备测试性能和稳定性也有了质的飞跃，在升级长度过程中，会不断迭代已有的光路和模块，进行长时间的实验验证，以Z优化的结构，提升设备测试效果为目的。

下图为光纤微裂纹检测仪测量保偏光链路，该器件长0.955m,末端是保偏光纤，OLI能测试出由保偏光纤双折射引起的2个不同时延峰值。OLI以1μm的采样分辨率能清晰判别出链路中光模块的好坏以及光纤裂纹检测。

保偏光链路测试图

东隆科技推出的光纤微裂纹检测仪叫做低成本光学链路诊断系统（OLI），该系统通过读取Z终干涉曲线的峰值大小，精确测量整个扫描范围内的回波损耗， 进而判断此测量范围内链路的性能，其事件点定位精度高达几十微米，Z低可探测到-80dB光学弱信号， 广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产品批量出货合格判定。

低成本光学链路诊断系统（OLI）

特点：

▪ 1μm采样分辨率

▪ -80dB动态范围

▪ 1m测量长度

应用：

▪ 光纤微裂纹检测

▪ 硅光芯片、PLC波导瑕疵损耗检测

▪ FA光纤阵列链路性能检测

▪ 光器件、光模块内部耦合点、连接点性能检测