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OLI光纤微裂纹检测仪:突破精度极限,引领光通信检测革新

来源:武汉东隆科技有限公司 更新时间:2025-06-09 17:45:16 阅读量:101
导读:在光通信网络高速发展的今天,光纤及光器件的质量直接决定了通信系统的稳定性和传输效率。然而,传统检测技术存在精度不足、效率低下等问题,难以满足日益严苛的行业需求。

在光通信网络高速发展的今天,光纤及光器件的质量直接决定了通信系统的稳定性和传输效率。然而,传统检测技术存在精度不足、效率低下等问题,难以满足日益严苛的行业需求。国产自研的 OLI 光纤微裂纹检测仪,以秒级检测、微米级定位、分布式回损分析为核心优势,为行业树立了高精度分布式检测的新标杆。


四大技术突破,重塑检测效率与精度

01

秒级测量,效率跃升

传统检测流程因耗时过长,常导致生产环节“断档”。OLI 设备凭借自研的精准扫描功能,可灵活设定测试位置,测试时间最低至秒级,可在极短时间内完成分布式链路回损检测并输出结果,大幅提升产线连贯性,助力企业实现产能与质量的双重突破。


02

百微米级定位,精准识别微裂纹

光纤微裂纹与链路强反射信号是光器件的“隐形杀手”。OLI 设备通过百微米级定位精度,可精准识别并定位微小缺陷,即使是 -15 dB 或者 -100 dB 级别的极强或极弱的反射信号均能精准测量,为工艺优化提供关键数据支持。


03

高精度回损分析,量化性能指标

OLI设备可精确输出各反射事件的回损数据,帮助用户快速评估光器件的耦合、尾端反射、链路异常等情况,为产品分级与可靠性验证提供科学依据。


04

灵活定制,覆盖全场景需求

OLI设备支持亚米级测量范围,适配光纤跳线、模块器件等常规场景;针对高密度、多通道的转接跳线、特殊结构器件及产线自动化等需求,提供定制化解决方案,实现从研发产线的无缝覆盖。


应用场景:赋能光通信全生命周期

 产线出货检测:可与工厂现有测试系统集成、对大批量高价值的产品进行更加精细且全面的分布式功率检测,有助于实时拦截缺陷产品,降低批次性风险和长期失效概率。


 工艺优化:通过长期、大量的失效微裂纹分布数据,反向指导切割、熔接等工艺参数调整。


 器件结构设计与开发:快速定位耦合端面,清晰显示波导反射强度,弯曲及损耗,判断光纤及波导类型,空间结构尺寸,镀膜反射透射强度等。


为什么选择 OLI 光纤微裂纹检测仪?

 技术领先:作为国内首家实现 OFDR 商用化的公司,凭借丰富的精密光学测量设备制造经验,能够做到从光学、电路到软件全方位自研开发并批量生产。 

 

 客户至上:提供“标准产品+深度定制”双模式,灵活响应多样化需求。同时拥有专业售后支持团队,确保快速解决客户问题,优化测试方案。


 生态共建:与国内外头部光通信企业深度合作,设备已通过多个大厂的产线级验证,可靠性与精度均得到业界认可。


在光通信行业迈向 800G/1.6T 甚至是 CPO 封装等高速率、硅光集成化的进程中,OLI 光纤微裂纹检测仪通过覆盖“研发-生产-运维” 全链条技术布局,构建产品质量护城河。未来,东隆科技将持续深耕光学检测领域,以创新技术驱动行业标准升级,助力光通信产业实现高效、优质检测!

武汉东隆科技有限公司创立于1997年。产品涵盖科研及工业应用的各个环节,主要涉及光谱影像、激光光束诊断、气体传感、单光子计数、光链路测量、超快超强激光系统六大光学应用领域。
成立至今,东隆科技秉持“服务创造未来”的宗旨,为客户提供迅捷、高品质的服务,倍受广大客户的信赖。东隆科技在多年技术积累的同时,聚集了一批光学、电学的技术人才,能够针对客户需求提供优质的产品及专业的解决方案。先后同欧美日多家厂商建立了全面深入的合作,并联合成立了开发、应用、服务技术中心。
电话:027-87807177
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