1.背景
当我们在对电子样品做切片分析时,有时会遇到如下图这样的划痕。

图1. 电子样品上锡球抛光后划痕
如上图所示的划痕是我们在进行3 µm金刚石抛光液细抛时留下的。尽管3 µm的划痕已经很小了,但这些划痕会覆盖观察目标(IMC层、边界结构),不满足观察要求。为了去除这些划痕,还原样品内部最真实的显微组织结构,需要选择合适的终抛抛光液进行划痕去除。
2.终抛抛光液
针对电子样品,常规的终抛抛光液有0.02 µm-1 µm粒径的氧化铝抛光液、二氧化硅抛光液等可以选择。

要对最终抛光液做出正确的选择,我们首先要了解,氧化铝抛光液和二氧化硅抛光液的特性和区别。

1.MasterPrep 氧化铝抛光液
MasterPrep 氧化铝抛光液是一种近中性的抛光液,具有像金刚石一样的多面型颗粒结构。

特点
纯粹机械抛光的方式去除材料
较适合铸铁、钢、不锈钢、铜、聚合物、 矿物、微电子、贵重金属
不易团聚
8.5 pH
0.05 µm粒径
2.MasterMet 2 二氧化硅抛光液
MasterMet 2 二氧化硅抛光液与氧化铝不同,氧化硅是球形颗粒,主要通过高PH值对样品表面进行微溶解并通过颗粒滚动的方式清理样品表面。

特点
利用化学反应生成反应层,然后利用机械方式去 除反应层
较适合铝合金、难熔金属、微电子中的硅、陶瓷
非结晶抛光液
10.5 pH
0.02 µm
3.效果对比

A)氧化铝抛光液效果图 B)二氧化硅抛光液效果图
(1)氧化铝抛光为机械式,样品表面平整,有利于观察孔隙、裂纹等缺陷或镀层测量;适合一些需要观察表面结构的材料,适合铸铁、钢、聚合物、矿物、微电子的缺陷分析、贵重金属。
(2)二氧化硅抛光为化学+机械,有微腐蚀的效果,有利于观察微观组织结构,扩散层分析;适合硬度高、韧性大、易出划痕的样品,比如陶瓷、铝合金、钛合金、难熔金属、微电子中的硅。
3.总结
通过上述显微观察图对比可知,针对电子样品中锡球的结构观察,终抛工序的抛光液选择氧化铝抛光液更合适,而二氧化硅抛光液会对锡球表面产生腐蚀,影响观察。
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