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你是否在大样本分析时遇到种种技术限制而苦苦挣扎？我们明白的。传统镓离子 FIB-SEM的材料去除率太低，不足以应对当今材料科学的挑战。但如果有项技术能够在保持高分辨率（纳米级）分析的同时，又能对较大尺寸（毫米级）的岩石样本进行快速制样呢？
诚邀您参加此次网络研讨会，我们将为您揭开创新氙离子 PFIB/SEM 技术对毫米级样本纳米级分析能力的层层面纱。
此次TESCAN特邀澳大利亚AXT公司FIB-SEM专家 Annalena Wolff 做报告。
内容预告
解读页岩的复杂性
我们将揭示分析这种复杂、非均质岩石的挑战，以及传统的镓离子 FIB-SEM 在此应用中的技术限制。
介绍 氙离子 PFIB 技术
了解这项创新技术在移除大量材料的速度究竟有多快，使研究人员在进行材料分析时有更多的选择和控制能力。
掌握页岩样品制备的艺术
深入探讨制备毫米级横截面的秘密，并掌握特定观察点或特定区域的岩石分析。
当与样品的传统截面抛光效果相比时，氙离子 PFIB/SEM的实力立马显现。
我们热情邀请您加入这次现场演示，使用这项技术打造材料科学、制造和地质学的未来吧！
info.tescan.com/matsci-fib-sem
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我们期待您的参与！
温馨提示：注册表显示的是欧洲时间。中国时间 6月13日下午3:00对应的选项是：Tue, June 13th, 2024 9:00 AM - 10:00 AM CEST
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