【操作指南】第二期：工件特殊/赶时间？蔡司不贴点扫描教程，快速出结果！

使用蔡司三维光学系统 ATOS Q 扫描时，会遇到无法使用参考点的场景，如物体表面特殊、工件结构不允许粘贴，或现场需紧急扫描（无时间布置）。此时可选择无参考点扫描，其核心是借助 ZEISS INSPECT 软件的 “最佳拟合算法”，用物体自身充足的表面特征数据替代参考点，完成定位与数据整合。

使用ATOS Q扫描仪直接对目标物体进行首次扫描，无需提前布置任何参考点。此次扫描的核心目的是获取物体的基础表面轮廓数据，为后续定位提供 “特征基准”。

完成首次扫描后，对原始数据进行清理 —— 去除背景数据、扫描噪点等无效数据，保留物体的核心表面特征（如边缘、凹槽、凸起等辨识度高的结构），确保数据有效性。

基于清理后的首次扫描数据，再次扫描。此时 ZEISS INSPECT 软件会自动通过 “最佳拟合算法”，将新扫描数据与首次扫描的表面特征进行精准匹配，完成自动定向，无需手动调整基准。

若需围绕物体旋转，采集两侧或多面数据，可重复上述流程：每完成一组扫描后，通过软件的 “最佳拟合” 功能选择对应参考数据（如前一次扫描的有效表面特征），系统会自动计算坐标转换关系，实现多组数据的无缝合并（具体操作可参考配套演示视频）。