赛默飞 XRD 精准匹配锂电、制药、化工、新材料等核心应用

正极材料（LiFePO?、NCM）晶型鉴定、晶粒尺寸估算检测、杂相分析、批次一致性监控、来料抽检；

负极材料石墨化度、硅碳负极晶粒尺寸分析；

固态电解质基础表征。电池材料原位动力学研究可以单独成行。

紧凑型 θ/θ 光学设计，操作简便，无需资深专业人员；

配备固态像素探测器，可快速筛查正极材料晶型与杂相；

可实时监测充放电过程中材料相变；

支持快速扫描模式，适配产线来料抽检与批次一致性监控，体积小巧可放置于产线旁，免维护且运行成本低，适配多种样品类型。

高性能立式机型，搭配高精度测角仪与高速二维探测器，信噪比高且可有效去除荧光背景；

支持原位电化学、高温样品台，适配微量样品分析与高端研发需求。

原料药晶型鉴别

多晶型筛选与控制

制剂中API物相定性定量

药物稳定性研究

台式设计占地小，适配药企 QC 实验室布局；

操作便捷，可快速筛查原料药晶型，支持制剂专用样品台。

高端立式机型，精度处于行业顶尖水平，可提供符合法规申报要求的数据；

检出限更低，支持微量原料药分析，适配创新药研发；

支持多种定量方法与晶体结构解析，满足新药研发的严苛需求。

催化剂晶相鉴定

晶粒尺寸分析

分子筛物相表征

积碳/失活分析

精细化学品物相检测

高分子材料结晶度测定

经济实惠，适配化工行业常规质检与快速筛查需求；

可快速完成催化剂晶相与晶粒尺寸分析；

探测器采集速度快，操作简单无需专人值守，支持多种样品类型，可批量处理检测数据。

配备原位催化反应腔，可实时监测催化剂反应过程中的结构变化与积碳情况；

搭载掠入射 XRD 附件，适配纳米、薄膜催化剂表征；

高精度测角仪搭配二维探测器，可精准分析分子筛结构与活性相；

支持晶体结构精修，软件可实现多组数据对比分析，指导工艺优化。

粉体表征

陶瓷材料结晶度检测

薄膜/多层结构表征

微量样品分析、缺陷检测

紧凑易用，适配新材料小型研发与常规质检场景；

可完成粉体、陶瓷材料的基础物相及结晶度分析，操作简单且支持一键数据处理；

探测器分辨率高，支持多种样品台，性价比高，适配教学与基础研发需求。

搭载二维探测器与掠入射 XRD 附件；支持微量样品分析，适配高端新材料研发；

高精度测角仪搭配动态误差补偿技术，可精准测定结晶度与晶格缺陷；

支持原位温变样品台，软件可实现晶体结构解析，适配前沿研发场景。

矿物鉴定

矿石品位定量

尾矿分析

勘探样品快速检测

黏土/矿物结构分析、杂质相检测

台式紧凑设计，适配矿山、勘探现场等空间有限场景；

操作便捷，可快速完成矿物定性与定量分析；

6 位自动进样器支持无人值守，快速扫描模式适配矿石、尾矿筛查，运行免维护、稳定性强。

具备全自动高通量检测能力，可批量分析复杂矿物样品；

高精度矿物定量功能，能精准测定矿石品位与杂质相含量，助力勘探与资源评估；

支持微量矿石样品分析，低角度衍射性能优异，分辨率更佳，可区分相似矿物相。

熟料相（C?S/C?S/C?A/C?AF）定量

游离钙检测、混合材（矿渣/粉煤灰）分析

生产全流程质控

原料验收

台式紧凑，适配常规实验室；

配备固态像素探测器，支持一键 Rietveld 定量，可快速完成高分辨数据采集；

6 位自动进样器支持无人值守，数据可直连 LIMS 系统，稳定性强，符合 X 射线安全标准，支持 NIST 样品验证，性价比高。

立式高端机型，配备高精度 θ/θ 测角仪，角度采集精准；

分辨率更优，支持全自动进样及产线数据直连；

采用魔卡光路+动态误差补偿技术，稳定性卓越，可搭配高温样品台等拓展附件，支持复杂混合材定量分析，助力低碳水泥研发。

赛默飞 XRD 产品线以 X’TRA Companion 与 EQUINOX Pro 形成清晰互补，全面覆盖从产线质控到前沿研发的多元需求。前者操作便捷、稳定高效，适合日常检测；后者精度卓越、拓展性强，满足高端研究。无论何种应用场景，赛默飞均可提供精准匹配的 XRD 解决方案。