ATA-4052C高压功率放大器在高频磁芯损耗测量中的应用

　　实验名称：功率放大器在高频磁芯损耗测量中的应用

　　研究方向：高频磁芯损耗测量

　 实验内容：测量频率在10kHz到500kHz范围内，磁通密度幅值在0~0.2T范围内，正弦波以及PWM波激励下的环型磁芯损耗，通过信号发生器产生所需波形，再利用功率放大器将信号输入磁芯的一次侧，利用双绕组法测量环型磁芯内部的磁芯损耗。

　　测试设备：信号发生器，ATA-4052C高压功率放大器、示波器、高频电流、电压探头等等。

　　实验过程：

图1：实验测试实物图

　　根据双绕组法，2个电压探头检测环型磁芯的一次侧和二次侧电压，1个电流探头检测一次侧电流，将检测信号输入示波器。利用信号发生器产生所需频率、幅值、形状的波形，经功率放大器放大输入环型磁芯的一次侧。采集电压电流数据，换算为磁通密度和磁场强度，通过B-H曲线计算磁芯损耗。

　　实验结果：

图：实验结果

　　如图所示，根据测量到的电信号，通过全电流定律和电磁感应定律转换为磁路磁信号。绘制转换后的磁通密度B和磁场强度H，可分别得到频率f或者磁通密度对B-H回线的影响，进而可直观的揭示B和f对磁芯损耗的影响。

　　功率放大器推荐：ATA-4052C高压功率放大器

图：ATA-4052C高压功率放大器指标参数

　　本文实验素材由西安安泰电子整理发布。