SDD还是PIN:您的手持式XRF分析仪需要哪种探测器?
在购买手持式XRF分析仪时,确定需要硅漂移探测器(SDD)还是PIN探测器是您需要做出的S要选择之一。
SDD对比PIN:它们之间有什么差别?
硅漂移检测器(SDD)(德国KETEK公司)是一种较新的技术,其每秒钟的X射线计数率比PIN探测器大约多10倍。SDD探测器的分辨率也比PIN探测器大约低40 eV。不过,伴随着SDD性能的提高是成本的增加。
下图说明了同一样品中Si-pin和SDD的输出差异。红色峰表示SDD输出,灰色光谱表示si-pin。
决定因素:这很复杂,但如果您需要测量低含量(0.05%以下)元素、轻合金(镁铝合金、含硅硫磷合金)或干扰比较大的合金(比如锡铅铋合金、钽铌合金),那么SDD是Zjia选择。
在确定哪种探测器更适合您的时候,您需要考虑打算如何使用XRF分析仪。在此要问您两个重要的问题:
1、您是否需要测量一些轻元素,如:镁(Mg)、铝(Al)、硅(Si)、磷(P)、硫(S)、氯(Cl)、钾(K)或钙(Ca)?
这些较轻元素的定量性检测只能由装配有SDD探测器的分析仪完成。许多人因此错误地认为不能使用装配了PIN探测器的分析仪对铝合金进行分拣。但是,配备了PIN探测器的分析仪可以基于较重元素(如:铜、铬或铁)的含量对许多铝合金牌号进行分拣。当然要进行更细微的区分,如:镁含量不同的6061铝和6063铝,需要使用配备了SDD探测器的分析仪。
如果您还是不太确定SDD和PIN探测器之间的差别,或者对XRF技术还有其他疑问,请不要迟疑,向我们寻求帮助!
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