仪器网(yiqi.com)欢迎您!

| 注册2 登录
网站首页-资讯-话题-产品-评测-品牌库-供应商-展会-招标-采购-知识-技术-社区-资料-方案-产品库-视频

技术中心

当前位置:仪器网>技术中心> 应用方案> 正文

【热点应用】X射线荧光光谱分析铝土矿熔融样品中主次量元素

来源:马尔文帕纳科 更新时间:2026-02-26 18:15:28 阅读量:112
导读:马尔文帕纳科高性能台式能谱仪Epsilon4铝土矿熔融样品元素分析应用报告

置顶马尔文帕纳科公众号,及时了解最新信息


本文摘要

铝土矿元素分析贯穿地质勘探 — 资源评价 — 采矿选矿 — 冶炼加工 — 产品质量 — 环保处置 — 综合利用全产业链,是实现铝土矿高效、经济、绿色、可持续开发利用的核心技术支撑。为对铝土矿原料进行精准质量控制,不仅需要监测 Al元素的含量,Si、Fe、Ti等其他元素的含量也至关重要。本应用报告介绍了采用 Epsilon 4 能量色散 X 射线荧光(EDXRF)光谱仪结合 Claisse 的 Eagon 2 电控熔融制样机,对熔融制备的铝土矿样品中主量元素与次要元素进行分析的方法。


样品制备


使用 7 种有证标准物质(CRM),每种物质制备两份熔片样品以建立校准曲线。有证标准物质包括 NIST(696b、600、696、697)和 GBW(07177、07181、07182)。熔片样品采用助熔剂(50% Li2B4O7 / 50% LiBO2)与样品质量比 1:10 的比例制备,通过 Eagon 2 自动电控熔样机在 1150℃下完成熔融过程。


测试设备


本实验使用 Epsilon 4 能量色散 X 射线荧光光谱仪,配备 10W、50kV 银靶 X 射线管、6 个滤光片、氦气吹扫装置、高分辨率硅漂移探测器(SDD)、 10 位可移动进样器及样品自旋装置。


图1.Eagon2 电控熔样机(左) ,Epsilon 4 能量色散X射线荧光光谱仪(右)


测量条件


根据测量样品中不同元素设置不同的测量条件:

  • 测量元素Al?O?、MgO、P?O?、SO?、SiO?,检测条件为:5kV、2000μA,测量时间60s,氦气分析介质,无需滤光片。

  • 测量元素CaO、Cr?O?、Fe?O?、K?O、MnO、TiO?,检测条件为:12kV,800μA,测量时间120s,空气分析介质,薄Al滤光片。

  • 测量元素ZnO 和ZrO? ,检测条件为:50kV,200μA,测量时间60s,空气介质,银滤光片。

测量NIST铝土矿标准样品中氧化铝和二氧化硅的光谱如如下:

图2. NIST 696B标准样品在5kV,氦气环境下的光谱图,显示出探测器优异的分辨率和高灵敏度。


结果及讨论


工作曲线和准确度


图3. 铝土矿中Al2O3 的工作曲线

图4. 铝土矿中Fe2O3的工作曲线

图5. 铝土矿中TiO2 的工作曲线


图 3、图 4、图 5 分别为熔融铝土矿中氧化铝、氧化铁和二氧化钛的校准曲线,表明有证浓度与检测强度之间具有良好的相关性。表 1 列出了各化合物校准的均方根(RMS)值,检出限(LLD)根据上文中测量条件中的检测时间计算得出。


表1. 工作曲线概况

* RMS(均方根)表示回归的质量。 校准精度越高,均方根值越小。


精密度



为测试 Epsilon 4 光谱仪的精密度,对 NIST 698 标准样品进行了 20 次重复检测,结果如表 2 所示。

检测结果与有证浓度高度吻合,重复检测的低均方根值表明整个系统具有良好的稳定性。


表2. 重复性测试结果


Conclusion

本实验数据充分证明,Epsilon4 能量色散 X射线荧光光谱仪适用于铝土矿熔片样品中Al2O3, CaO, Cr2O3, Fe2O3, K2O, MgO, MnO, P2O5, SO3, SiO2, TiO2, ZnO和ZrO2的定量分析,仅需4 分钟即可获得精准的检测结果。



点击咨询XRF老客户忠诚计划>>>


>>> 关于马尔文帕纳科

马尔文帕纳科(Malvern Panalytical)是全球材料表征领域的专家。随着Micromeritics和SciAps两个技术高度互补的新成员加入,进一步完善了马尔文帕纳科的材料表征解决方案。


马尔文帕纳科的使命是通过对材料进行化学、物性和结构分析,打造出更胜一筹的客户导向型创新解决方案和服务,从而提高效率和产生可观的经济效益。通过利用包括人工智能和预测分析在内的最新技术发展,我们能够逐步实现这一目标。这将让各个行业和组织的科学家和工程师可解决一系列难题,如更大程度地提高生产率、开发更高质量的产品,并缩短产品上市时间。

联系我们

销售热线:+86 400 630 6902

售后热线:+86 400 820 6902

联系邮箱:info@malvern.com.cn

官方网址:www.malvernpanalytical.com.cn


400 855 8699转8116
留言咨询
{"id":"111501","user_id":"499","company_id":"467","name":"马尔文帕纳科"}

参与评论

全部评论(0条)

相关产品推荐(★较多用户关注☆)
你可能还想看
  • 技术
  • 资讯
  • 百科
  • 应用
  • 荧光X射线测厚仪的应用范围
    它通过分析物体表面和内部的X射线荧光信号,能够准确测定材料的厚度,尤其在需要精细化控制和高效检测的行业中展现出其不可替代的优势。本文将深入探讨荧光X射线测厚仪的各类应用,并阐述其在不同领域中的重要作用,帮助相关行业实现更高效、更精确的生产控制和质量保障。
    2025-10-20130阅读 X射线测厚仪
  • 能量散射x射线荧光光谱仪应用
    它通过分析样品在X射线照射下产生的荧光辐射,从而实现对样品中元素组成的定性和定量分析。本文将深入探讨能量散射X射线荧光光谱仪的应用领域、工作原理及其在不同领域中的实际应用价值,特别是在环保、地质、冶金、考古及环境监测等领域中的重要性。
    2025-10-23210阅读 X射线散射仪
  • X射线显微镜X 射线荧光全息方法
    X射线显微镜为一种X射线成像术,也是一种显微成像技术。也就是为了观察研究方便而放大成像微观的、肉眼无法分辨看出的结构和图形的仪器。
    2025-10-23933阅读 X射线显微镜
  • x射线荧光光谱仪原理
    这种技术广泛应用于材料分析、环境监测、地质勘探、金属回收等领域。X射线荧光光谱仪原理基于X射线与物质相互作用产生的荧光辐射特性,通过对荧光谱的分析,可以识别和定量样品中的元素成分。本文将详细解析X射线荧光光谱仪的工作原理,帮助读者深入理解其背后的物理机制及应用价值。
    2025-10-15198阅读 X射线荧光光谱仪
  • 荧光X射线测厚仪原理
    本文将详细介绍荧光X射线测厚仪的工作原理,分析其在厚度测量中的优势与应用,帮助读者全面了解这一技术在精密检测领域中的重要性与应用前景。
    2025-10-15224阅读 X射线测厚仪
  • 查看更多
版权与免责声明

①本文由仪器网入驻的作者或注册的会员撰写并发布,观点仅代表作者本人,不代表仪器网立场。若内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们立即通知作者,并马上删除。

②凡本网注明"来源:仪器网"的所有作品,版权均属于仪器网,转载时须经本网同意,并请注明仪器网(www.yiqi.com)。

③本网转载并注明来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。

④若本站内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱:hezou_yiqi

热点文章
当矿山边坡遇上"火眼金睛"——且看IDS IBIS-FM EVO如何"看穿"千米边坡的微小形变
花粉智能监测,让春天更安心
Aigtek电压放大器基于微流控的声流混合及高效捕获在cfDNA的应用
Turbiscan在陶瓷3D打印粘结剂分散稳定性表征中的应用及关键意义
基于sCMOS相机单次曝光并行四步相移的定量相位成像研究
实验数据不稳?动物应激太大?可能是您的睡眠剥夺造模方法选错了
日本INSENT电子舌:咸淡有据!终结调味品品控主观判断!
低压配电产品PCBA爬电距离和电气间隙设计规范
解决方案 | Raythink睿创燧石光伏与储能电站智能监测解决方案
高性价比WB:灵敏不止,价格更优
近期话题
相关产品

在线留言

上传文档或图片,大小不超过10M
换一张?
取消