根系研究的关键在于对植物“隐藏的一半”进行可视化和量化,通常有以下研究方法:
(1)传统植物根系的研究方法如挖掘法、定位法、土钻法等,通过挖根、洗根等操作,对根系基本形态、等级结构、颜色进行分析。
(2)微根窗技术通过埋设透明根管对根系进行原位的定点观测。
(3)根箱栽培法分为RGB成像和高光谱成像,能够对实验室条件下培养的幼苗的整体根系进行形态分析,后者还能够进行土壤和根系的化学成像。

常用根系表型研究方法及其成像图
上述根系研究方法的优缺点及代表性的仪器如下表所示:
根系研究方法 | 优点 | 缺点 | 代表性仪器 |
挖掘法、土钻法 | 经济成本低 | 破坏性;耗时耗力 | WinRhizo洗根图像分析系统 |
微根窗法 | 非破坏性; 定点观测 | 窗面尺寸小 | MS-190超高清微根窗相机系统 |
根箱栽培法 -RGB成像 | 非破坏性; 可实现高通量分析 | 图像自动分割依赖于根与土壤的对比度 | PlantScreen高通量植物表型系统 |
根箱栽培法 -高光谱成像 | 自动图像分割; 可对根系成分进行化学成像 | 经济成本略高 | RhizoTron®植物根系高光谱成像分析系统 |
基于高光谱成像的根箱栽培法在抗性筛选及遗传育种、病虫害胁迫及干旱研究、土壤结构及养分研究等领域具有广泛的应用和出色的表现,为此北京易科泰生态技术公司研制开发了RhizoTron®植物根系高光谱成像分析系统。该系统可对RhizoBox根盒培养的植物根系进行原位非损伤表型成像分析,包括高光谱成像分析和根系自发光荧光成像分析,可用于预测根际水分含量、根系氮含量。
甜菜根际水分可视化
Gernot et.al采用了RhizoTron®根系高光谱成像技术,对根箱培养的甜菜根系进行了900-1700nm波段的高光谱成像。通过对不同发生位置及成熟度的根系和土壤的平均光谱进行分析,发现三种根系(主根、老龄侧根、新生侧根)的光谱曲线存在显著差异,在1100nm附近新生侧根与主根出现吸收峰,而老龄侧根并未出现;并且老龄侧根与土壤反射曲线趋势较为一致。但在水分吸收区域(1450nm)附近,根系光谱斜率高于土壤。研究小组使用不同含水量土壤校准根箱的平均光谱进行校准,绘制出了根箱上水分分布图[1]。
左:三个根ROI(主根、老龄侧根、新生侧根)和两个土壤ROI(根箱的顶部和底部)的平均光谱;右:根箱内水分分布图。
元宝槭幼苗根系氮素和水分评估
易科泰EcoTech®的实验室人员以野生元宝槭幼苗为实验材料,使用RhizoTron®植物根系高光谱成像分析系统采集了根系的高光谱数据(900-1700nm),评估了其氮素和水分的含量和分布。
元宝槭幼苗氮素(左)和水分(右)含量分布
易科泰RhizoTron®植物根系表型成像系统
RhizoTron®植物根系高光谱成像分析系统可对生长于RhizoBox根箱/根窗的作物根系进行RGB、高光谱成像分析和UV激发生物荧光成像分析。
图为RhizoTron®植物根系表型成像系统及根盒培养案例
产品特点:
◆ (反射光)高光谱成像分析
◆ UV-MCF紫外光激发生物荧光高光谱成像分析,以研究分析根系活动及根系与土壤互作关系、荧光假单胞菌等;或选配根系Thermo-RGB成像分析
◆ 基于RhizoTron®根窗技术的高光谱成像分析技术,选配植物培养模块,可持续监测土壤水分温度、重量、植物生长、PI(performanceIndex)、茎流等生理生态指标,可自动采集土壤渗漏水并进行土壤营养盐分析;可选配多通道智能LED培养台
◆ 专业分析软件:SpectrAPP®高光谱成像分析软件、PhenoRoot根系分析软件
参考文献
[1] Gernot B , Mouhannad A , Alireza N , et al. RGB and Spectral Root Imaging for Plant Phenotyping and Physiological Research: Experimental Setupand Imaging Protocols. [J]. Journal of visualized experiments : JoVE, 2017, (126).

全部评论(0条)
RhizoTron®高通量根系表型观测系统
报价:面议 已咨询 261次
RhizoTron®根系表型高光谱成像分析系统
报价:面议 已咨询 257次
LCSD-iFL便携式光合-荧光复合测量系统
报价:面议 已咨询 2575次
UGT径流水蚀监测系统
报价:面议 已咨询 2095次
ku-pf非饱和导水率测量系统
报价:面议 已咨询 2239次
SEDIMAT 4-12 土壤粒径分析系统
报价:面议 已咨询 3911次
ACE-Net 多通道土壤呼吸监测系统
报价:面议 已咨询 3309次
SoilBox-FMS 便携式土壤呼吸测量系统
报价:面议 已咨询 285次
①本文由仪器网入驻的作者或注册的会员撰写并发布,观点仅代表作者本人,不代表仪器网立场。若内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们立即通知作者,并马上删除。
②凡本网注明"来源:仪器网"的所有作品,版权均属于仪器网,转载时须经本网同意,并请注明仪器网(www.yiqi.com)。
③本网转载并注明来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。
④若本站内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱:hezou_yiqi
参与评论
登录后参与评论