NS-Zeta丨电位分析仪
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应粉体工业广大用户的颗粒材料表面修饰活化评价、乳液浆料稳定性预测和复杂制剂工艺配方的优化、矿物浮选及污水处理等需求，珠海有限公司在成功引进和吸收马尔文帕纳科 (Malvern Panalytical)颗粒表征技术的NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪基础上最新推出NS-Zeta 电位分析仪，能满足纳米至微米广阔范围内颗粒样品的Zeta电位的测试需求。
NS-Zeta 电位分析仪采用电泳光散射技术测定颗粒Zeta电位和电位分布，同时融合马尔文帕纳科恒流模式下的M3-PALS快慢场混合相位检测分析技术，提升了仪器的电位分析性能，延长了样品池的使用寿命，数据随时间的一致性和电位及电位分布的准确性都得以明显提升。
与此同时，仪器广泛采用全球化供应链的优质光电部件及Scrum软件迭代升级开发模式，使其具有高品质并能随用户需求变化升级管理和报表功能。进口雪崩式光电二极管(APD)检测器、He-Ne气体激光器光源和高性能相关器等优质硬件，加上精确的内部温控装置、密闭光纤光路设计以及先进的软件算法，共同保障了数据的高重现性、准确性和灵敏度。NS-Zeta支持SOP标准化操作，具有兼容CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》要求的审计、权限管理及电子签名功能以及具有测试数据质量智能反馈和优化建议，方便用户使用。
Zeta电位
Zeta电位范围：无实际限制
适用测试的粒径上限：不小于100μm (取决于样品)
最大电泳速率：＞+20μ.cm/V.s / ＜-20μ.cm/V.s
测量原理：电泳光散射法(ELS)
最高样品浓度：40% w/v (取决于样品及样品池)
最小样品容积：20μL
最高样品电导率：260mS/cm
检测技术：快慢场混合相位分析(M3-PALS)，恒流模式
系统参数
激光光源：高稳定He-Ne气体 激光器，波长632.8nm，功率 4mW。
整机激光安全：I类
检测角度：13°
检测器：雪崩式光电二极管(APD)检测器，QE>80%@632.8nm
相关器：采样时间 25ns - 8000s，多于4000通道，1011动态线性范围
冷凝控制：干燥氮气或空气吹扫 (需外接气源)
具有兼容CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》的审计、权限管理及电子签名功能
温度控制范围：0 - 120 ℃
温度控制最高精度：± 0.1 ℃
精细化工行业纳米材料、表活、低聚物等的开发和生产质控
药物分散体系、乳液和疫苗等制剂配方和工艺开发
脂质体和囊泡的开发
矿物堆浸及浮选
钻井泥浆及陶瓷浆料
电极浆料及助剂的稳定性表征
涂覆材料稳定性能预测
墨水、碳粉、染料和颜料性能改进
优化水处理中絮凝剂的使用
胶体、乳液、浆料稳定性评价
确定多种复杂制剂的混合、均质等加工工艺参数
方式1：
拨打售前热线：400-902-5338、18675639766
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方式2：
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