175-200nm波长范围的光学性能是应用于深紫外光学器件的关键指标,特别是190-200nm的偏振参数,将直接影响增大数值孔径后成像的质量,偏振参数的高精度检测是对其成像质量进行有效调控的前提。
本文主要介绍采用紫外/可见/近红外光谱仪、自动消偏起偏整合偏振系统、TAMS可变角度测试附件,测试样品不同角度下绝对反射率、透射率数据,实现190nm-2500nm自动变角度透射反射偏振光学性能的精确表征。
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