电学分析仪器

可快速测试Seebeck系数，对样品无特殊要求，测量方法稳定可靠

薄膜热电参数测试系统是专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量，测温范围达到81K~700K，采用动态法测量Seebeck系数,避免了静态测量在温差测量上的系统误差,测量更准确。

热电参数测试系统采用动态法(具有ZL技术)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。 热电参数测试系统主要是用于测试块体热电材料，包括康铜、镍、钨等金属，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、Z...

霍尔效应测试系统依据范德堡法测量材料的电运输性能参数：载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或薄层材料均可测量，可应用于所有半导体材料，包括Si、ZnO、SiGe、SiC，GaAs，InGaAs...

薄膜变温电阻测试仪采用双电法测量高温、真空、气氛条件下的电阻和电阻率，可以用来分析样品的电阻率随温度变化曲线、电阻温阻系数、样品相变温度点。其广泛用于光电、铁电、热电等各种导电材料的电阻率测量。