扫描电镜（SEM）

#13; 新品详情 上市时间：2012年11月 创新点:高画质的钨灯丝扫描电镜,图象质量更进一步。 通过高画质提升扫描电镜的分析能力和操作性,凝聚日立zu

构紧凑，性能高 与现有型号相比，减少了20%的体积。 标配可变压力模式。 保证30 kV电压时，二次电子3.0 nm的分辨率， 背散射电子4.0

高分辨率SU-8000系列，满足客户对SEM之不同需求。特长低加速电压下超高分辨率观察（二次电子解析度1.3nm/1.0kV）新增Topper Detector利于最表面情报之观察 可提供多重讯号输出

立高新超高分辨率场发射扫描电子显微镜SU9000是专门为电子束敏感样品和需最大300万倍稳定观察的先进半导体器件，高分辨成像所设计。新的电子枪和电子光学设计提高了低加速电压性能。0.4nm / 30k

真空可描式子微 FlexSEM 1000 Scanning Electron Microscope FlexSEM 1000 精的安空, 也可分解安於一般桌面全新自子位校正功能，自行全新的低像差子光系

立高新热场式场发射扫描电镜SU5000--搭载全新用户界面，向所有用户提供高画质图像--日立高新技术公司（以下简称：日立高新）8月4日开始发售的肖特基式场发射扫描电子显微镜"SU5000"，搭载了全新

日立高新场发射扫描电子显微镜SU8200系列（HITACHI UHR FE-SEM SU8200 Series，SU8220，SU8230，SU8240）采用日立高新技术公司全新开发的冷场电子枪，实现