详细介绍
TMS透过率测量仪
TMS透过率测量仪能快速准确地测量各类平面、球面、非球面等光学元件的透过率,可用于实时显示单、多点波长透过率
数据及指定波段平均透过率数据。适用于手机盖板IR孔、棱镜、镀膜镜胶合镜、平行平板、太阳膜、滤光片等平面、球面非球
面光学元件及组合镜头等的检测。
仪器特点:
◆球面、非球面、塑料制品散透射等测量;
◆测试速度极快, 1秒出结果,实现产品全检;
◆极小样品的透过率检测。
技术参数：
型号 | TMS(I型) | TMS(II型) | TMS(III型) |
探测器 | Sony线形CCD阵列 | Hamamatsu背照式2D-CCD | Hamamatsu背照式2D-CCD |
检测范围 | 380-1000nm (TMS-UV:200-850nm) | 380-1100nm |(TMS-UV:200-1100nm)| | 360-1100nm (TMS-UV:225-1000nm) |
信噪比(全信号) | 250:1 | 450:1 | 1000:1 |
相对检测误差 | <0.6%(410-900nm)| | <0.4%(410-1000nm) | <0.2%(410-1000nm) |
检出限 | 0.1% | 0.05% | 0.01% |
CCD制冷 | 未制冷 | 未制冷 | -20°C |
单次测量时间 | <1s | ||
样品尺寸 | ≥φ1.5mm(显微:≥0.8mm) | ||
光斑 | 可调，≥φ0.6mm(显微≥0.3mm) | ||
操作系统/接口 | Windows7~Windows10/USB2.0 | ||
电源/功率 | 220V-50HZ/6W | ||
产品优势
满足球面、非球面、塑料制品等器件散透射参数JZ测量;
测试速度极快, 1秒出结果,实现产品全检;
可实现极小样品的透过率检测。
测试速度极快, 1秒出结果,实现产品全检;
可实现极小样品的透过率检测。
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