详细介绍
MS-TMS多点透过率测量仪
该仪器在成熟的显微透过率光路系统基础上,样品台升级为高精度电动位移平台,放置样品后,系统自动将待测小孔/滤光片依次移动至测量区域,并记录数据实现样品多孔/多点透过率自动测量,适用于手机面板的多孔测试、阵列滤光片的高通量测试、 镀膜滤光片的均匀性分析。
仪器特点：
◆ 用户可自定义样品测量位置,定位准确;
◆ 无损检测，支持成品全检
◆ 单点测量速度极快。
技术参数：
| 型号 | MS-TMS多点透过率测量仪 | |
| 探测器 | Hamamtsu背照式2D-CCD | |
| 相对检测误差 | <0.2%(410-1000nm) | |
| 波长检测范围 | 380-1100nm | |
| 信噪比(全信号) | 1000:1 | |
| CCD制冷 | -20°C | |
| 波长精度 | 1.0nm | |
| 光源 | 卤素钨灯 | |
| 测量光束直径 | 0.5mm | |
| 样品测试平台 | 行程(可选) | X轴 100mm/180mm |
| Y轴 100mm/180mm | ||
| 螺杆导程 | 4mm | |
| 分辨率 | 0.0032mm | |
| 重复定位精度 | <0.005mm | |
| 步进电机 | 42步进电机(1.8°) | |
| 操作系统 | Windows7~Windows10/USB2.0 | |
| 电源 | 220V-50Hz/W | |
产品优势
◆用户可自定义样品测量位置,定位准确;
◆无损检测，支持成品全检
◆单点测量速度极快。
◆无损检测，支持成品全检
◆单点测量速度极快。
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