详细介绍
Planum-3000平面光学元件光谱分析仪
仪器用于快速测量各类平面光学元件的反射、透射光谱，可进行多角度反射率、相对反射率、透射率测量、偏振光测量、膜性测量、颜色测量等。
仪器特点 自定义多角度透反射测量
测量对象：
技术参数
| 型号 | Planum-3000 |
| 探测器 | Hamamatsu背照式CD阵列 |
| 检测范围 | 380-1100nm |
| 波长分辨率 | 1nm |
| 信噪比(全信号) | 1000: 1 |
| 相对检测误差 | <0.2%(410-900nm ) |
| 操作方式 | 自动 |
| 角度分辨率 | <0.0002° |
| 重复定位精度 | <0.005° |
| 旋转速度上限 | 25%/s |
| 透射测量角度 | 0-80°(小样品0-50°) |
| 反射测量角度 | 5-80° |
| 单次测量时间量 | <1s |
| S/P光测量 | 支持 |
| 样品尺寸 | >φ3mm |
| 操作系统/接口 | Windows7~Windows10/USB2.0 |
| 电源/功率 | 220V-5OHZ/100w |
| 其它 | 可自定义打印报表格式，开放式光学材料数据库 |
产品优势
Planum-3000平面光学元件光谱分析仪可针对平面光学元件反射率、透射率、偏振光、膜性、颜色等进行多角度快速测量。适用于棱镜、平行平板、平晶、滤光片、红外截止片等众多类型光学元件参数测量。
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广州标旗光电科技发展股份有限公司
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