-
解决方案
-
ICP-OES 分析高浓度钯(Pd)内的微量硒 (Se)
发布:珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司浏览次数:1309钯(Pd)是目前半导体超微镀金使用的非常重要的元素之一。由于是用于超微镀金,所以主要成分钯(Pd)的准确含量很重要,所含杂质的定量也非常重要。本文建立了利用ICP-OES分析高浓度钯(Pd)内的微量硒 (Se)的解决办法。
2020-05-20相关仪器 -
免责声明
①本网刊载上述内容,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任
②若本站内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱:hezou_yiqi