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公司新闻
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PHI邀您相约明年！清华SIGS 2024第五届表面分析技术研讨会成功举办！
发布：爱发科费恩斯（南京）仪器有限公司浏览次数：84月19日 由清华SIGS材料与器件检测技术中心
和ULVAC-PHI共同举办的
2024第五届表面分析技术研讨会
顺利召开！
本次会议吸引了来自全国各地的近200位行业专家及相关科研工作者参与。
会议开场，清华大学深圳国际研究生院材料与器件检测技术中心主任李宝华教授和ULVAC-PHI 爱发科费恩斯（南京）仪器有限公司叶上远总经理致欢迎辞。
▲清华大学深圳国际研究生院李宝华教授致辞
▲ULVAC-PHI 叶上远总经理致辞
会议主要围绕XPS、TOF-SIMS等表面分析技术，分享科研与产业相关前沿话题与热点应用。此次大会，邀请到9位行业专家、学者代表分享了主题报告，详细探讨了表面分析技术。
▲ULVAC-PHI 应用与市场推广总监 鞠焕鑫博士作《ULVAC-PHI表面分析技术的深度解析与前沿进展探索》报告。
▲清华大学深圳国际研究生院助理教授 王自强老师作《球差矫正透射电镜在材料序参量与表面界面分析中的应用》报告。
▲深圳大学研究员 秦磊老师作《XPS在插层石墨表面组分检测中的应用》报告。
▲ULVAC-PHI应用专家 冯林博士作《XPS技术及其与多技术联用在多学科研究领域的综合应用探索》报告。
▲北京理工大学高级实验师 宋廷鲁老师作《飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)在钙钛矿材料中的应用》报告。
▲清华大学深圳国际研究生院测试表征工程师 石楚琪博士作《TOF-SIMS的测试准备及案例分析》报告。
▲ULVAC-PHI应用专家 丁志琴作《TOF-SIMS技术在有机材料分析中的应用与MS/MS创新应用》报告。
▲ULVAC-PHI应用专家 杨欧作《SIMS技术在工业领域的前沿应用》报告。
▲清华大学深圳国际研究生院材料与器件检测技术中心分析应用工程师 潘燕芳老师作《XPS分析常见问题及分析案例》报告。
现场交流提问 报告专家围绕表面分析前沿话题进行了探讨
现场答疑环节为大家答疑解惑
给参会嘉宾献上了
一场精彩绝伦的学术盛宴
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茶歇现场 实验室参观 PHI VersaProbe4
PHI 5000VersaProbeⅡ
PHI nanoTOF Ⅱ
上午报告结束后，参会嘉宾利用午餐间隙与专家进行了交流，并在清华大学深圳国际研究生院材料与器件检测技术中心老师带领下参观了中心实验室，近距离接触了解表面分析设备。
盛会落幕后，携手向未来。清华SIGS 2024第五届表面分析技术研讨会圆满落幕，让我们期待明年再会！
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2024-04-24 -
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