KLA FilmetricsF20是一款高精度薄膜厚度测量仪，采用光谱反射技术，测量范围覆盖1纳米至3毫米，具备一键操作、非接触测量及多层结构分析能力，广泛应用于半导体、OLED、光伏、生物医学等领域...

Alpha-Step D-600探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D和3D台阶高度。 D-600还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的2D和3D测量。 D-600包括一个电动2...

P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量，适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达150mm而无需图像拼接。

P-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量，适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达200mm而无需图像拼接。

Proflim 3D是一款基于白光干涉仪的光学轮廓仪，采用相位扫描干涉技术（PSI）对纳米级特征进行测量，以及采用垂直扫描干涉技术（VSI）对亚微米至毫米级特征进行测量。 Proflim 3D的程序设...

Zeta-300支持3D量测和成像的功能，并提供整合隔离工作台和灵活的配置，可用于处理更大的样品。该系统采用ZDot™技术，可同时采集高分辨率3D数据和True Color（真彩）无限远焦点图像。Ze...

在尖端材料研发与工业质量控制领域，纳米尺度的力学性能直接决定了产品寿命与可靠性。KLA G200X纳米压痕仪凭借全电磁力驱动、100kHz超高速采集及模块化多场景适配能力，已成为全球实验室与高端制造的...

iMicro纳米压痕仪作为KLA旗下旗舰级力学测试平台，融合电磁驱动技术、模块化功能扩展与工业级高通量测试能力，为材料研发与质量控制提供从纳米到微米尺度的全维度力学表征方案。