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KLA FilmetricsF20是一款高精度薄膜厚度测量仪，采用光谱反射技术，测量范围覆盖1纳米至3毫米，具备一键操作、非接触测量及多层结构分析能力，广泛应用于半导体、OLED、光伏、生物医学等领域...

Alphacen 300 原子力显微镜系统是一种独特的 AFM 解决方案，可以轻松处理大型和重型样品。它具有Flex-Mount扫描头，采用针尖扫描的设计方式，无论样品重量如何，都能实现高性能成像。配...

表面形貌是许多高科技材料表面的重要特性,其可能低至几纳米,表面粗糙度不到一纳米。原子力显微镜可以在正常环境条件下轻松分析这些特征。

瑞士Nanosurf 原子力显微镜，专为工业级高精度与超大样品而设计，将科研级分辨率与工业兼容性深度融合，成为半导体量产、新材料研发及跨学科微观表征的强有力工具。

FlexAFM是一款高度通用且灵活稳定的原子力显微镜，适用于物理、材料科学及生物科学等领域。它具有稳定的常规材料学应用性能，并能便捷地与倒置光学显微镜集成用于生物研究，或放置在手套箱中研究二维材料。F...

在纳米尺度研究领域，瑞士Nanosurf公司推出的DriveAFM原子力显微镜系统代表了当前尖端技术的巅峰之作。通过光热激振（CleanDrive）、直驱扫描（Direct Drive）和全电动控制三...

Alpha-Step D-600探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D和3D台阶高度。 D-600还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的2D和3D测量。 D-600包括一个电动2...

P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量，适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达150mm而无需图像拼接。

P-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量，适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达200mm而无需图像拼接。

Proflim 3D是一款基于白光干涉仪的光学轮廓仪，采用相位扫描干涉技术（PSI）对纳米级特征进行测量，以及采用垂直扫描干涉技术（VSI）对亚微米至毫米级特征进行测量。 Proflim 3D的程序设...

Zeta-300支持3D量测和成像的功能，并提供整合隔离工作台和灵活的配置，可用于处理更大的样品。该系统采用ZDot™技术，可同时采集高分辨率3D数据和True Color（真彩）无限远焦点图像。Ze...

在尖端材料研发与工业质量控制领域，纳米尺度的力学性能直接决定了产品寿命与可靠性。KLA G200X纳米压痕仪凭借全电磁力驱动、100kHz超高速采集及模块化多场景适配能力，已成为全球实验室与高端制造的...

iMicro纳米压痕仪作为KLA旗下旗舰级力学测试平台，融合电磁驱动技术、模块化功能扩展与工业级高通量测试能力，为材料研发与质量控制提供从纳米到微米尺度的全维度力学表征方案。

SEMILAB 光谱型椭偏仪是多功能薄膜测试系统，适合各种薄膜材料的研究。