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美国KLA纳米力学测试系统 G200价格：面议- 品牌： 美国KLA
- 型号：G200
- 产地：美国
所有的纳米压痕试验都取决于精确的加载和位移数据，要求对加载到样品上的载荷有精确的控制。
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- 品牌： 美国KLA
- 型号：KLA-Tencor Profiler
- 产地：美国
KLA-Tencor先进的探针式台阶仪，可精确测量纳米级 至2毫米台阶高度，并可分析薄膜表面粗糙度、波纹度、应力，集高测量精度、多功能性和经济性于一体，是生产线及材料分析等应用领域的理想选择。
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美国KLA
KLA-Tencor成立于1975年，位于美国加利福尼亚州的米尔皮塔斯，致力于半导体（芯片）设备领域的探索。产品主要有芯片缺陷检测仪、芯片量测仪、实时等离子蚀刻晶圆温度测量系统、套刻量测系统、表面轮廓仪、纳米机械测试仪、芯片封装设备等，产品广泛应用于半导体产品研发、设计、制造、检测等领域。
