KLA-Tencor成立于1975年，位于美国加利福尼亚州的米尔皮塔斯，致力于半导体（芯片）设备领域的探索。产品主要有芯片缺陷检测仪、芯片量测仪、实时等离子蚀刻晶圆温度测量系统、套刻量测系统、表面轮廓仪、纳米机械测试仪、芯片封装设备等，产品广泛应用于半导体产品研发、设计、制造、检测等领域。