赛默飞世尔/Thermo Fisher

结合了高灵敏度、高分辨率定量成像以及多技术联用能力的 Thermo Scientific™ ESCALAB™ QXi X 射线光电子能谱仪（XPS）微探针将满足您对提高分析性能和灵活性的需求。

以较小的投入获得研究级结果。Thermo Scientific™ K-Alpha™ X 射线光电子能谱仪（XPS）系统是一种完全集成式单色小光斑 XPS 系统，具备深度剖析能力。先进的性能、降低的拥有...

Thermo Scientific™ Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪（XPS）系统能提供全自动、高通量的表面分析，提供数据以推进研究和开发，或解决生产问题。XPS 与离子散射光谱（ISS）、U...

用于半导体晶片测试的静电放电两销测试系统。

灵活台式 TLP/VF-TLP 测试系统。

用于模拟静电放电事件的带电器件模型放电测试系统。

用于 ESD 和闩锁测试的静电放电测试系统

用于快速原型设计和半导体电路调试和维修的电路编辑技术。

用于电气故障定位的光子发射显微镜和激光扫描显微镜。

用于 10 nm 以下节点电气故障无损定位的光学故障隔离系统。

实现生产条件下高达 300 mm 的全半导体晶片的电气故障分析。

用于半导体故障分析和服务实验室的静态光学故障隔离解决方案。

用于电气故障隔离和高效TEM工作流程的纳米探测，以提高半导体故障分析能力。

基于扫描探针显微镜的纳米探测系统，可快速使半导体中的故障可视化。

用于自动化、高通量半导体晶片分析的 TEM 分析样品制备工作。

聚焦离子束扫描电子显微镜，用于超高分辨率、高质量样品制备和 3D 表征。