赛默飞世尔/Thermo Fisher

产品介绍：可使用 Thermo Scientific™ 微型工具样品支架对长轴向形状样品进行成像，无需修饰样品。使用微型工具样品支架，可对物体（如钻头、铣削工具和注射针）快速简便地成像。通过旋转和倾

Apreo 复合透镜结合了静电和磁浸没技术，可产生前所未有的高分辨率和材料对比度。

产品介绍：该 Thermo Scientific™ 样品支架的底座与标准样品支架的底座相同，只是该支架设计用于支撑使用树脂安装的样品。该支架是用于金相学和与插件配合使用时的首 选解决方案。性能数据样

Thermo Scientific™ Prisma™ E SEM是首台支持一体化ColorSEM技术进行直观元素分析的钨灯丝扫描电子显微镜。Prisma 配置环境真空模式，并可灵活配置，多种配件选项能...

FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系统，能为包括磁性材料在内的众多样本提供出色的二维和三维性能。FEI Scios 的创新功能可提高通量、精度与易用性，非常适于学院、政府...

产品介绍：通常用于过滤器残留分析和石棉分析的滤纸样品必须牢固且平坦地安装在 SEM 系统中，以进行正确分析。由于滤纸是一种敏感的样品材料，不使用插件安装这些样品可能会导致样品折叠和损坏。使用传统的（

FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系统，能为包括磁性材料在内的众多样本提供出色的二维和三维性能。FEI Scios 的创新功能可提高通量、精度与易用性，非常适于学院、政府...

产品介绍：在许多 SEM 应用中，如果样品可以倾斜和旋转，用户可以更深入地了解样品特性。考虑到这一点，专门为 Phenom XL 开发了 Thermo Scientific™ 全对中样品支架。支架包

冷冻电镜单颗粒分析技术（Single Particle Analysis，SPA）可测定蛋白、蛋白复合物和其他生物大分子近原子分辨率的三维结构。这一成功得益于玻璃化技术的应用，样品以很快的速度冷冻，与...

产品介绍：Thermo Scientific™ 电子馈通式样品支架允许用户将电子探针连接到样品上进行原位测量。当在 SEM 中观察样品时，6 个快速释放针连接可用于待读取的各种信号以及同时施加到样品

一直以来，Helios NanoLab 都综合采用了 FEI 的ZJ电子和离子光学系统、配件和软件，能够为JD纳米量级研究提供强大的解决方案。对于从事纳米技术前沿研究的科学家，Helios NanoL...

产品介绍：该样品支架旨在减少样品装载量，并消除非导电样品的额外样品制备。样品（如纸、聚合物、有机材料、陶瓷、玻璃和涂层）成像变得快速和无障碍。性能数据与标准 Phenom 样品支架相比，装载样品前可

新一代 Thermo Scientific™ Krios™ G4冷冻透射电镜Cryo-TEM是该系列产品中设计最紧凑的。通过对机械底座框架和设备外壳的全新设计，该款设备净身高缩短至3 m以内，适用于任...

产品介绍：Thermo Scientific™ μPolisher 系统是一种独特的解决方案，适用于原位、较低能量的局部表面修饰，包括抛光和清洗散装样品。系统使用带可调节能量和各种离子电流的静态气体

Talos™ 是新一代 TEM 产品，致力于让用户迅速访问二维和三维数据，从而专注于研究发现。

Talos F200X S / TEM可在多个维度上提供zui快，zui精确的纳米材料定量表征。 Talos F200X S / TEM具有旨在提高产量，精度和易用性的创新功能，是学术，政府和工业研究...