一级代理美国Filmetrics薄膜测厚仪

美国Filmetrics薄膜测厚仪代理公司

美国Filmetrics薄膜测厚仪，可信赖，可放心

FilmetricsF20便携式膜厚测试仪
Filmetrics简介
世界yi流,经济有效的Filmetrics薄膜厚度测量系统,测量薄膜厚度仅需几秒钟。
Filmetrics膜厚测试仪产品轻点鼠标就能测量1纳米到13毫米的薄膜厚度。几乎所有的材料都可以被测量。直观的设计意味着您能在几分钟内完成diyi个薄膜厚度测量！
1.只需要运行基于Windows的软件，连接Filmetrics设备，然后，开始测量。
2.方便地存储或输出详细测量资料。
3.快速地将我们的厚度测量系统与其它系统通过.NET软件整合。
每秒两个点薄膜测绘F20薄膜厚度的测量系统
测量反射率和透射率
测量光斑小至1微米(μm)
每秒两个点薄膜测绘
自动晶圆处理系统
FilmetricsF20产品简介：
1有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)；
2Zda样品薄膜厚度的测量范围是：3nm～25um；
3精度为好于0.1nm。
产品特性：
1、操作简单、使用方便；
2、测量快速、准确；
3、体积小、重量轻；
4、价格便宜。
FilmetricsF20产品应用：
1、半导体行业:光阻、氧化物、氮化物；
2、LCD行业:液晶盒间隙厚度、Polyimides；用f20来测量透明的蓝宝石上的光刻胶，ito，多层氧化硅氧化钛等薄膜厚度，该机操作简易，毫秒间就能测量出准确的数据。
3、光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片。
FilmetricsF20zhuo越的技术
我们通过分析光如何从薄膜反射来测量薄膜厚度。通过分析肉眼看不见的光谱我们能测量几乎所有超过100原子厚度的非金属薄膜。因为不涉及任何移动设备，几秒钟之内就能测出：薄膜厚度，折射率，甚至粗燥度！
其可测量薄膜厚度在1nm到1mm之间，测量精度高达1埃，测量稳定性高达0.7埃，测量时间只需一到二秒,并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）,液晶显示(Displays),硬涂层(Hardcoats),金属膜(Metal),眼镜涂层(Ophthalmic),聚对二甲笨(Parylene),电路板(PCBs&PWBs),多孔硅(PorousSilicon),光阻材料(ThickResist),半导体材料(Semiconductors),太阳光伏(Solarphotovoltaics),真空镀层(VacuumCoatings),圈筒检查(Webinspectionapplications)等。
通过Filmetrics膜厚测量仪Zxin反射式光谱测量技术,Z多4层透明薄膜厚度、n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如:
半导体工业:光阻、氧化物、氮化物。
LCD工业:间距(cellgaps)，ito电极、polyimide保护膜。
光电镀膜应用:硬化镀膜、抗反射镀膜、过滤片。
极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，Filmetrics提供以下型号以供选择:
F20:这简单入门型号有三种不同波长选择(由220nm紫外线区至1700nm近红外线区)为任意携带型，可以实现反射、膜厚、n、k值测量。
F30:这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头，同时测量三个样品，具紫外线区或标准波长可供选择。
F40:型安在任何微外，可提供Z小5um光(100倍放大倍)量微小品。
F50:型配全自XY工作台，由8"x8"到18"x18"或客提供所需尺寸均可。通过快速扫瞄功能，可取得整片样品厚度分布情况(mapping)。
F70:仅通过在F20基本平台上增加镜头，使用FilmetricsZxin的颜色编码厚度测量法（CTM），把设备的测量范围极大的拓展至3.5mm。
F10-RT：在F20实现反射率跟穿透率的同时测量，特殊光源设计特别适用于透明基底样品的测量。
PARTS：在垂直入射光源基础上增加70?光源，特别适用于超薄膜层厚度和n、k值测量。

高级膜厚测量仪系统F20

美国Filmetrics薄膜测厚仪代理公司美国FilmetricsF-20F-30F-40等等价格好，货期短。

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