薄膜测厚仪的性能简介

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【导读】薄膜测厚仪的性能简介非接触式测厚仪的测量原理：使用两个激光传感器安装在被测物（纸张）上下方，将传感器固定在稳定的支架上，确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的移动传感器就...

薄膜测厚仪的性能简介

非接触式测厚仪的测量原理：使用两个激光传感器安装在被测物（纸张）上下方，将传感器固定在稳定的支架上，确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的移动传感器就开始对其表面进行采样，分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离，测量值通过串口传输到计算机，再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理，得到目标的厚度值。　　ZTMS08非接触式薄膜测厚仪的出现，大大提高了纸张等片材厚度测量的精度，尤其是在自动化生产线上，得到广泛应用。Z近英国真尚有公司研发出了新的非接触式测量方法ZTMS08测厚仪，可以实现对薄膜的非接触式测量，避免对纸张造成形变引起误差。技术指标：　　　　1.测量范围：（0-25）mm　　2.分辨率：0.001mm　　3.电源：氧化银电池SR44　　4.工作温度：0℃～+40℃　　5.储运温度：-20～+70℃　　6.相对湿度：≤80%符合标准：　　QB/T1053-98，QB/T451.3-98

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2004-11-11 09:23:05

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