二次离子质谱仪二次离子质谱仪是用来检测材料的一种仪器,即是利用离子束把待分析的材料从表面溅射出来,然后再检测出离子组分并进行质量分析,二次离子质谱仪是对微粒进行同位素分析的有力工具,是利用质谱法分析初级离子入射靶面后,溅射产生的二次离子而获取材料表面信息的一种方法。
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飞行时间二次离子质谱
- 品牌:英国Kore
- 型号: TOF-SIMS
- 产地:英国
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术。可以广泛应用于物理,化学,微电子,生物,制药,空间分析等工业和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面,薄膜,界面以至于三维样品的元素,分子等结构信息。
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飞行时间二次离子质谱仪
- 品牌:英国Kore
- 型号: TOF-SIMS
- 产地:英国
※ 广泛应用于导体、半导体和绝缘体等领域。 ※ 用于纳米级表面成分定性或定量分析,实现二次离子图像 与二次电子图像分析。配置离子刻蚀枪,可进行材料深度 分布分析。 ※ 并行探测所有离子,包括有机和无机分析碎片。 ※ 宽范围的质量探测范围(实际测量中>1000m/z原子 量)。 ※ 极高的空间分辨率。 ※ 超高灵敏度1E+9 atoms/cm 。 ※ 导体、半导体和绝缘体表面均可测试。
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二次离子飞行时间质谱
- 品牌:英国Kore
- 型号: SurfaceSeer
- 产地:英国
SurfaceSeer :具有高通量分析功能的飞行时间二次离子质谱仪,用于研究样品特定性能的理想工具SurfaceSeer 是Kore公司集多年研发经验生产出独特的仪器,第一次将材料表面分析技术引入到可负担得起的日常常规分析范围中。可在最短的分析时间内生成化学图像,突破常规实验室仪器的极限!SurfaceSeer分析仪采用功能强大的二次离子质谱SIMS技术,结构紧凑,仅需一个标准电源,可放置于任何场所使用。SurfaceSeer应用广泛,是一台高性价比的实验室型材料表面分析仪器。SurfaceSeer相对
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