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飞行时间二次离子质谱仪
- 品牌：英国Kore
- 型号： TOF-SIMS
- 产地：英国
- 供应商报价： 面议
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科睿设备有限公司
更新时间：2023-06-26 10:47:00 -
企业性质生产商
入驻年限第5年
营业执照已审核
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- 详细介绍
※ 广泛应用于导体、半导体和绝缘体等领域。
※ 用于纳米级表面成分定性或定量分析，实现二次离子图像 与二次电子图像分析。配置离子刻蚀枪，可进行材料深度 分布分析。
※ 并行探测所有离子，包括有机和无机分析碎片。
※ 宽范围的质量探测范围（实际测量中>1000m/z原子 量）。
※ 极高的空间分辨率。 ※ 超高灵敏度1E+9 atoms/cm 。
※ 导体、半导体和绝缘体表面均可测试。
| 仪器分类: | 飞行时间 |
