MiniSIMS ToF飞行时间二次离子质谱仪

MiniSIMS ToF飞行时间二次离子质谱仪在探测未知样品、研究较小区域的表面特征、从有机样品中获取更多信息方面。

性能卓越

探测未知样品

飞行时间质谱（ToF）的引入使得MiniSIMS的性能跃升到一个新的水平。

MiniSIMS ToF飞行时间二次离子质谱仪对未知样品的测定与测量已知组分一样容易，这使得该仪器非常适合研究性应用。在失效分析中，比如污染鉴定，发现的额外细节有助于准确的查明问题的确切原因。

创新的设计使得该仪器使用简便、结构紧凑。不仅处理功能强大，仪器操作也进一步简化，在实际分析中，基本不需要操作者的判断。如果需要的话，可存储的完整的三维数据可供有经验的操作者进行进一步评估。

高级分析

MiniSIMS ToF飞行时间二次离子质谱仪可以同时分析各种元素和有机物质，更有效地利用了样品材料。仪器性能的提高保证了对较小区域特征的全面分析。这种模式下，有机光谱的质量得到了显著提高。

这种优势与拓宽的光谱质量范围相结合，获得了更多关于有机材料的详尽信息，便于与数据库中的谱图进行对比分析。

MiniSIMS ToF飞行时间二次离子质谱仪同样能够区分常规有机物和元素的干扰，使数据更加清晰，检测限更低。