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半导体参数分析仪
品牌:武汉普赛斯
型号:PMST-4000A
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数字源表测电阻率四探针法
品牌:武汉普赛斯
型号:S100
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VCSEL器件窄脉冲LIV测试系统
品牌:武汉普赛斯
型号:PL202
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半导体分立器件静态测试系统
品牌:武汉普赛斯
型号:PMST-3500V
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第三代半导体晶圆测试高电压大电流源
品牌:武汉普赛斯
型号:HCPL100型
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TEK Keithley半导体参数分析仪 4200A-SCS
- 品牌:美国泰克
- 型号: 4200A-SCS
- 产地:美国
美国泰克TEK Keithley半导体参数分析仪 4200A-SCS ,加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。
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泰克半导体参数分析仪 Keithley 4200A-SCS
- 品牌:美国泰克
- 型号: Keithley 4200A-SCS
- 产地:美国
· 内置测量视频采用英语、中文、日语和韩语 · 使用数百个用户可修改应用测试开始您的测试 · 自动实时参数提取、数据绘图、算数函数
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激光单粒子效应SEE测试仪
- 品牌:美国Allied Scientific
- 型号: SEE
- 产地:美国
单粒子效应对应用于航天以及核工业的芯片往往造成极大危害,相对于传统的粒子加速器而言,利用脉冲激光进行检测可以极大地提GX率,降低成本。以下型号型号激光SEE测试仪已经被应用于美国波音公司和NASA。
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自动特性图示仪
- 品牌:美国RTI
- 型号: MT Century Curve Trace
- 产地:美国
产品简介什么是Curve Tracing?"Curve tracing" 曲线追踪是用于寻找IC芯片中被电损坏的引脚的方法。MultiTrace产品提供了广泛的一系列解决方案,从使用powered curve tracing测试小型芯片的开路/短路到使用Latch Up testing测试与更为复杂的多电路的芯片。RTI's MT Century Curve Tracer RTI 开发的MT Century Curve Tracer是一个性价比
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Heller - 回流焊系统/垂直式固化炉
- 品牌:美国Heller INDUSTRIES
- 型号: Model 755
- 产地:美国
美国Heller Industries回流焊炉/垂直式固化炉Heller Industries 成立于一九六零年,并在八十年代首chuang对流式回流焊接设备。 多年来,Heller和其客户携手并进,致力于设备的创新和完善,以迎合更先进的制程需求。 立足创新与变革,Heller稳居全球回流焊领域的地位,为全球的电子制造商和装配厂提供各种解决方案。Mark III 系列 - SMT 回流焊炉 Mark III 系列回流焊炉的出现,带来更低的使用成本。Heller回流焊炉在加热和冷却方面的发展,可以为您节省高
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美国泰克Tektronix371A TEK371A图示仪
- 品牌:美国泰克
- 型号: 371A
- 产地:美国
371A是高功率曲线跟踪仪的行业领导者,用于测试各种功率半导体。它执行晶闸管,SCR和功率MOSFET的直流参数表征。
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美国Mactronix硅片倒片机(半导体FAB专用)
- 品牌:美国Mactronix
- 型号: MCL-x50
- 产地:美国
仪器简介: Mactronix公司世界较大的wafer transfer(倒片机)生产产家,他生产的倒片机,分选机,广泛被大的半导体厂家所使用,特别是欧美地区的大FAB里处处都有使用,国内的FAB里从国外进来的生产线上也有很多,使用十几年以上非常普遍,目前国内通过美国赛伦科技公司(北京上海都有办事处)全权负责销售与售后服务。使用客户有,如:台积电,中芯,康可电子等等FAB里都有购买使用。 具体资料请来电或邮件索取。
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美国MTI 测量硅片几何参数(TTV/BOW/WARP/FLATNESS)
- 品牌:美国MTI Instruments
- 型号: MTI 200SA/300/300SA
- 产地:美国
公司简介: 美国MTI公司为半导体行业硅片几何参数测量技术-电容探头领域的佼佼者,与昔日的ADE齐名:为世界半导体业硅片几何参数测量的标准测试设备;为纳斯达克上市企业。仪器简介: 主要参数: 1. Diameter: 150mm,200mm,300mm 2. Material: All semiconducting,and semi-insulating matrrials 3.Surfaces: As-Cut, Lapped, Etched,Polished,Patterne
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FSM128非接触薄膜应力测试
- 品牌:美国FSM
- 型号: FSM128/FSM413/FSM127
- 产地:美国
美国FSM应力仪-----应力测试专家,为行业应力仪!Semi-Auto(半自动) Fully-Auto(全自动)* 自动切换的双光路波长:650纳米和780纳米* 测量方式:直径方向的扫描,可提供形貌图* 扫描范围:对于200mm的硅晶圆为194mm* 3-D形貌图:测量台有旋转功能,可通过控制软件中的参数输入来旋转测量台,以完成形貌图的测量(至少需要测量6个方向的扫描)* 测量的硅晶圆尺寸: 200mm* 应力测量的范围:1X107 dynes/cm2 至 4X1010 dynes/cm2(对于典型
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Sinton Instruments+BCT400+少子寿命测试仪
- 品牌:美国Sinton Instruments
- 型号: BCT400
- 产地:美国
少子寿命测量仪BCT-400BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅(锭或块)的少子寿命.因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数,这个工具直接获得长硅的质量参数。作为最易于使用的测量工具--BLS,只需要有直径150mm大小的平面。如果只是测量平面样品的话,请选择BCT-400。
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Agilent/安捷伦4155C半导体参数分析仪
- 品牌:安捷伦
- 型号: 4155C
- 产地:美国
Agilent/安捷伦4155C半导体参数分析仪 安捷伦4155C半导体参数分析仪是一款经济GX、适用于先进器件表征的实验室用台式解决方案。41501B Expander 可将仪器的测量范围扩展至 1A/200V,并为4155C添加低噪声接地单元和双脉冲发生器。
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微动摩擦磨损试验机
- 品牌:美国Rtec
- 型号: MFT5000
- 产地:美国
微动摩擦磨损试验机采用电磁激振方式实现台体的微动,并使用Lvdt原件进行微动的位移精度控制项目简述参数说明1、微动摩擦磨损试验机测试系统可用载荷范围:0.1N-5KN,可提供传感器组选项:0.5N-50N,1N-100N,2N-200N,10N-1000N,20N-2000N,50N-5000N金属、陶瓷材料和润滑油宏观力学性能测试可进行球块、销块微动实验,微动实验频率:1-100Hz,振幅:0.1-200μm多种施力模式:恒力模式、线性增量模式、动态加载模式等2、微动摩擦磨损试验机的加载形式通过伺服机械
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MPS-150 Series
- 品牌:美国AGS Plasma
- 型号: MPS-150 Series
- 产地:美国
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等离子刻蚀ICP
- 品牌:美国Trion
- 型号: Minilock-Phantom III ICP
- 产地:美国
Minilock-Phantom III具有预真空室的反应离子刻蚀机可适用于单个基片或带承片盘的基片(3”- 300mm尺寸),为实验室和试制线生产环境提供zuixianjin的刻蚀能力。它也具有多尺寸批处理功能(4x3”; 3x4”; 7x2”)。系统有多达七种工艺气体可以用于刻蚀各种薄膜,如氧化硅、氮化硅、多晶硅、铝、砷化镓、铬、铜、磷化铟和钛。该反应室还可以用于去除光刻胶和有机材料。可选配静电吸盘(E-chuck),以便更有效地在刻蚀工艺中让基片保持冷却。该E-chuck使用氦压力控制器,及在基片背
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CS-3100 二手回收IWATSU CS-5100 CS5200 CS5300 CS5400功率半
- 品牌:美国泰克
- 型号: CS-3200
- 产地:美国
CS-3100 二手回收IWATSU CS-5100 CS5200 CS5300 CS5400功率半导
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Agilent4156C/安捷伦4156C半导体参数分析仪
- 品牌:安捷伦
- 型号: 4156C
- 产地:美国
Agilent4156C/安捷伦4156C半导体参数分析仪 Agilent 4155C 半导体参数分析仪是用于高级器件表征的精确实验室台式解决方案。Agilent 41501B 扩展器将您的功能扩展到 1A/200V,并在 Agilent 4155C 上添加了一个低噪声接地单元和双脉冲发生器。
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泰克参数分析仪4200A-SCS
- 品牌:美国泰克
- 型号: 4200A-SCS
- 产地:美国
参数查看,快速清晰。准确的 C-V 表征,测量、 切换、 重复。稳定的低电流测量,适用于 I-V 检定,带分析探测器和低温控制器的集成解决方案,降低成本并保护您的投资
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安捷伦4155C参数分析仪
- 品牌:安捷伦
- 型号: 4155C
- 产地:美国
Agilent 4155C半导体测试仪是Agilent下一代精密半导体测试仪。4155C是描述上等器件的低成本、实验室级的参数测试仪。
- 半导体参数测试仪
- 仪器网导购专场为您提供半导体参数测试仪功能原理、规格型号、性能参数、产品价格、详细产品图片以及厂商联系方式等实用信息,您可以通过设置不同查询条件,选择满足您实际需求的产品,同时导购专场还为您提供精品优选半导体参数测试仪的相关技术资料、解决方案、招标采购等综合信息。