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二手 FEI Magellan XHR钨灯丝扫描电子显微镜(待翻新)SEM
品牌:美国FEI
型号:Magellan XHR
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二手 FEI Titan 80-300 球差校正电子显微镜(待翻新)
品牌:美国FEI
型号:Titan 80-300
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二手 日本电子 JSM-7800F 热场发射扫描电子显微镜 SEM
品牌:日本电子
型号: JSM-7800F
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二手 TESCAN VEGA 钨灯丝扫描电子显微镜 SEM
品牌:捷克泰思肯
型号:VEGA
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二手 蔡司 EVO50 钨灯丝扫描电子显微镜SEM
品牌:德国蔡司
型号:EVO50
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二手 Bruker Dimension Edge 原子力显微镜
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Dimension Edge
- 产地:德国
原子力显微镜Dimension Edge 原子力显微镜超值的高性能 AFMDimension Edge™原子力显微镜采用布鲁克的PeakForce Tapping ® 技术,提供同类产品中,高水平的原子力显微镜 (AFM) 性能、功能和配件。基于 Dimension Icon 平台开发,Dimension Edge系统的设计具有低漂移、低噪音的特点,大大提高了数据获取速度和可靠性,使用这台全新的仪器,几分钟时间即可获得高质量、可发表的专业数据。另外,其集成的可视化反馈和预配置设置,使其
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二手 赛可 SNE-4500M Plus B 台式扫描电子显微镜 SEM
- 品牌:韩国赛可
- 型号: SNE-4500M Plus
- 产地:韩国
赛可公司总部位于韩国水原市,是专业从事扫描电子显微镜和X-RAY检测设备研发、生产的公司。作为韩国台式电镜生产厂家,自2006年推出台式电镜以来,赛可凭借其精湛的生产工艺和持续的技术创新,拥有众多的用户。SNE-4500M Plus是一款高性能,高配置的产品主要特点:一、分辨率高SNE-4500M Plus实现了落地式钨灯丝扫描电镜的小型化。其采用与大电镜相同的电子光学系统,两级聚光镜一级物镜,标配高真空和二次电子检测器,可实现分辨率5nm@30kV(SE),拥有与大电镜相媲美的性能。二、加速电压范围宽低
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二手 Gatan Ilion II 697 氩离子抛光系统
- 品牌:美国Gatan
- 型号: Ilion II 697
- 产地:美国
产品功能介绍 氩离子抛光系统是一个用于样品的截面制备及平面抛光的桌面型制样设备,以便样品在SEM及其它设备上进行检测分析。可利用IlionII进行抛光加工的材料种类十分广泛,包括由多元素组成的试样,以及具有不同的机械硬度、尺寸和物理特性的合金、半导体材料、聚合物和矿物等。如焊缝截面,集成电路焊点,多层薄膜截面,颗粒、纤维断面,复合材料、陶瓷、金属及合金、岩石矿物及其他无机非金属等各种材料的SEM、EBSD样品。品牌介绍 美国Gatan公司成立于1964年并于70年代末进入中国市场。Gatan公司以其
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二手 日本电子 JCM-7000 NeoScope™ 钨灯丝扫描电子显微镜SEM
- 品牌:日本电子
- 型号: JCM-7000 NeoScope™
- 产地:日本
JCM-7000台式扫描电子显微镜是日本电子全新推出的一款台式扫描电子显微镜。其不仅继承了日本电子大型扫描电镜所拥有的优异功能,相对于大型扫描电镜其操作简单,维护保养容易,体积小巧,价格低廉,检测速度快,从启动装填样品到测试出结果仅需5分钟左右。JCM-7000还创新的加入了实时能谱分析和实时3D显示的功能,更便捷高效的服务于您的研究和工作。JCM-7000主要功能:◆ 在同一个视野上可以从光学图像无缝过渡到(SEM)图像◆ 边观察边进行元素分析◆ 通过自动功能使从低倍
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二手 蔡司 AURIGA 60 聚焦离子束显微镜 FIB- SEM
- 品牌:德国蔡司
- 型号: AURIGA 60
- 产地:德国
Operation Voltage:High Tension SEM: 200 V - 30 kVHigh Tension FIB: 0.2 kV - 30 kV SourceFEG (Schottky)Gallium Liquid Metal Ion SourceImageing Detectors:In-lens SE, SESI, EsB, 4QBSDSTEM detectorSpectroscopyE
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二手 FEI Titan 80-300 球差校正透射电子显微镜 TEM
- 品牌:美国FEI
- 型号: Titan 80-300
- 产地:美国
仪器简介:FEI Titan 80-300 kV S/TEM是世界上功能强大的商用透射电子显微镜 (TEM)。Titan 自 2005 年推出后便因其提供突破性成果的能力及其卓越的产品设计而备受赞誉。它已迅速成为顶级研究人员的 S/TEM,从而实现了 TEM 及 S/TEM 模式下的亚埃级分辨率研究及探索。Titan 所具有的稳定性、高性能及简易性将把校正显微镜检查带入更高
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二手 日本电子 JSM-6510LA 钨灯丝扫描电子显微镜 SEM
- 品牌:日本电子
- 型号: JSM-6510LA
- 产地:日本
日本电子扫描电子显微镜JSM-6510A/JSM-6510LA详细介绍日本电子扫描电子显微镜JSM-6510A/JSM-6510LA型与日本电子公司的元素分析仪(显微镜主体系统的电脑控制,操作员只用一只鼠标,就可完成从图像观测到元素分析的整个过程。操作窗口:直观的操作界面的设计,简明易懂便于迅速掌握操作。支持多用户:单个用户可以根据常用功能设置相应的图标,营造快捷的操作环境。用户登录时,即可加载已注册过的设定。同时显示两幅图像:画面上并列显示二次电子成像和背散射电子成像这两种实时图像。可同时观察样品的形貌
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二手 日本电子 JEM-1400 透射电子显微镜 TEM
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-1400
- 产地:日本
透射电子显微镜/透射电镜JEM-1400是一款拥有优越成像和分析能力一体的高性能,高对比度,操作简便的120KV透射电子显微镜.加速电压从40KV到120KV可调,适合生物,聚合物和材料科学应用。配备新的JENIE™软件,JEM-1400提供完整的一套用户指南,不仅可以帮助透射电子显微镜的初学者尽快熟悉电镜,还可使有经验的用户了解性能. Windows™操作界面以新的Windows™为基础,可以通过TCP/IP联接和网络浏览器实现远程操作和通讯。JEM-1400透射电子显微镜/透射电镜还支持可选件:S
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二手 日本电子 JSM-7401F 场发射扫描电子显微镜 SEM
- 品牌:日本电子
- 型号: JSM-7401F
- 产地:日本
带能量滤波器的超高分辨率FE-SEM,可直接观察绝缘体JSM-7401F是一款高亮度圆锥型FE电子枪和低像差圆锥型电子枪是结合物镜(半内镜)的超高分辨率扫描电子显微镜。提高整体稳定性(抗震性、电子稳定性),可以稳定获得1 nm的保证分辨率,从而可以在最大放大倍数100万倍下进行观察。它还具有信号选择功能,还可以获得样品表面纳米结构的特征。特征JSM-7401F是一款超高分辨率扫描电子显微镜,结合了高亮度锥形FE电子枪和低像差锥形物镜(半内镜)。提高整体稳定性(抗震性、电子稳定性),可稳定保证1 nm的分辨
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二手 Hitachi S-3000N 钨灯丝扫描电子显微镜 SEM
- 品牌:日立
- 型号: S-3000N
- 产地:日本
日立电镜S-3000N:扫描电子显微镜的制造是依据电子与物质的相互作用。当一束高能的入射电子轰击物质表面时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子,以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时,也可产生电子-空穴对、晶格振动 (声子)、电子振荡 (等离子体)。原则上讲,利用电子和物质的相互作用,可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息,如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。扫描电子显微镜正是根据上述不同信息产生的机理,采用不同的信息检
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二手 中科科仪 EM-6900 钨灯丝扫描电子显微镜SEM
- 品牌:北京中科科仪
- 型号: EM-6900
- 产地:朝阳区
产品特点l 具备较高分辨率,满足大多数样品的微观形貌测试l 翻开式预对中钨丝阴极,更换灯丝方便l 成像效果优良,细节清晰,景深大l 样品仓室可多接口扩展,满足诸多原位测试,以及多功能嵌入l 中英文菜单,一键切换l 自动功能:电子枪加热、偏压、对中、聚焦、亮度、对比度、消像散、像散记忆等。l
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二手 日本电子 JEM-2100 HC 透射电子显微镜TEM
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-2100 HC
- 产地:日本
主要技术参数:◆ 灯丝:六硼化镧灯丝◆ 分辨率:点分辨率0.31nm,线分辨率0.14nm◆ 最大加速电压:200kV◆ 放大倍数范围:50-1500000倍◆ 最大倾斜角:±25°◆ 稳定度 加速电压:2x10-6/min◆ 物流电压:1x10-6/min◆ 物镜焦距:3.9mm◆ 球差系数:3.3mm◆ 色差系数:3.0mm◆ 最小焦距步长:5.2mm◆&n
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二手 Hitachi SU8600 冷场发射扫描电子显微镜SEM
- 品牌:日立
- 型号: SU8600
- 产地:日本
超高分辨场发射扫描电子显微镜 SU8600系列随着快速数据采集和数据处理技术的发展,电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量,而且重视其采集过程的时代。SU8600系列秉承了Regulus8200系列的高质量图像、大束流分析及长时间稳定运行的冷场成像技术,同时还大大提升了高通量、自动数据获取能力。超高分辨成像日立的高亮度电子源可保证了即使在超低着陆电压下,也可获得超高分辨的图像。高衬度的低加速电压背散射图像3D NAND截面观察;在低加速电压条件下,背散射电子信号能够明显的显示出氧化硅层和氮化硅层的衬度差别。
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二手 Hitachi Regulus 冷场发射扫描电子显微镜SEM
- 品牌:日立
- 型号: Regulus
- 产地:日本
超高分辨场发射扫描电子显微镜Regulus系列现有机型SU8240,SU8230,SU8220及SU8010重新整合,衍生而成Regulus8240、Regulus8230、Regulus8220、Regulus8100。"Regulus系列"继承了现有机型的观察和分析性能,配备SU8200系列的低噪音冷场发射电子枪*1,可以获得高稳定的束流。通过优化电子光学系统,Regulus8240/8230/8220在1 kV条件下分辨率提高到0.7 nm,Regulus8100的分辨率提高到0
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二手 Hitachi SU8020 冷场发射扫描电子显微镜 SEM
- 品牌:日立
- 型号: SU8020
- 产地:日本
日立2011年新推出了SU8000系列高分辨场发射扫描电镜,其中SU8020不光1kv的分辨率提升到1.3nm,并且在探测器设计上有新的突破,配置了Lower、Up-per和Top三个Everhart-Thornley型探测器,可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多种信号,实现微区的形貌衬度、原子序数衬度、结晶衬度和电位衬度的观测;结合选配的STEM探测器,还可以实现明场像和暗场像的观测;此外在半导体应用中,还可以安装EBIC探测器,采集感生电流图像,极大丰富了信号的采集,对样品的信息的收集达到了新的
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二手 日本电子 JSM-7400F 热场发射扫描电子显微镜 SEM
- 品牌:日本电子
- 型号: JSM-7400F
- 产地:日本
高性能场发射 扫描电子显微镜配备了柔和的光束功能,可在1kV或更低的极低加速电压下实现高分辨率,从而更忠实地观察样品表面信息。r-filter提高了观察非导电样品的能力,并配备了一个大样品室,用于直径为200mm的样品。应用 JSM-7400F的应用 >高角度背散射电子和低角度背散射电子 〉背散射电子 〉锂电池、催化研究支持:转移容器 >用SEM观察浅间山的火山灰
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二手 Hitachi H-9500透射电子显微镜 TEM
- 品牌:日立
- 型号: H-9500
- 产地:日本
【产品简介 】产品说明:原子分辨率300kV透射电子显微镜在精细加工技术已进入到亚纳米级水平的半导体,先进材料的研发领域,原子分辨率电子显微镜正在成为日益重要的工具。 【详细介绍 】原子分辨率300kV透射电子显微镜在精细加工技术已进入到亚纳米级水平的半导体,先进材料的研发领域,原子分辨率电子显微镜正在 成为日益重要的,的工具。为了满足这种需求,日立公司研发出了透射电子显微镜H-9500,此款高分辨透射电子显微镜不仅具备实地 验证过的各种优*性能,而且配置了很多满足客户多种需求的独*
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二手 FEI Helios 450HP G3 聚焦离子束扫描电子显微镜 (待翻新)FIB-SEM
- 品牌:美国FEI
- 型号: Helios 450HP G3
- 产地:美国
Helios NanoLab DualBeam 一直以来,Helios NanoLab都综合采用了FEI的最佳电子和离子光学系统、配件和软件,能够为尖端纳米量级研究提供强大的解决方案。对于从事纳米技术前沿研究的科学家,Helios NanoLab能让他们拓展研究边界,为材料研究开辟新的天地。 借助极具价值的亚纳米SEM成像技术、S/TEM超薄样本制备能力以及最精确的原型设计功能,科学家能够将Helios NanoLab当作理想的研究伴侣,为未来的科技进步开发创新的新材料
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二手 Hitachi S-2600N 钨灯丝扫描电子显微镜 SEM
- 品牌:日立
- 型号: S-2600N
- 产地:日本
S-2600N扫描电子显微镜 为满足工业发展的需要,日立研发了一台紧凑型的扫描电子显微镜(SEM)S-2600N 。无论有经验的操作人员还是新手都会发现使用S-2600N是如此的简单。通过一个智能化的软件,S-2600N可以引导操作者完成从最初条件设置到最终图像采集的所有操作步骤 特点:1. 很小的占地面积2. 可调压显微镜3. 容易操作4. 三维的维护录像指导技术指标二次电子分辨率4.0nm 保证指标VP可变压力方式分辨率5
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二手 Hitachi S-4700-II 冷场发射扫描电子显微镜SEM
- 品牌:日立
- 型号: S-4700-II
- 产地:日本
SpecificationS-4700-IIVintageE-beam Resolution1.5nm @15KV / 2.1nm @ 1kVStage5 Axis, MotorizedStage Travel100 x 50 mmZ, R30mm, 360 degTilt-5 - +60Sample EntryLL - 6" - 150mmChamber ViewYesOSWin XP ProVacuumTurboEDXThermal LN2 EDS SystemBSECentaurus De
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二手 Hitachi S-9220 特征尺寸扫描电子显微镜 CD-SEM
- 品牌:日立
- 型号: S-9220
- 产地:日本
日立CD-SEM二手现货扫描电镜S-9220适用于8英寸晶圆的监测,CD检测范围0.1~2.0μm,最大吞吐量45wph,放大倍数1000~300,000。设备尺寸和参数:主机尺寸: 1200(W)*1930(D)*1850(H) mm, 1850kg显示单元: 600(W)*1360(D)*1850(H) mm, 320kg电源:535(W)*870(D)*1800(H) mm, 300kg冷却水循环器:407(W)*484(D)*880(H) mm, 55kg翻新要求:大修主柱按要求检修主柱,包括清洗
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二手 蔡司 EVO50 钨灯丝扫描电子显微镜SEM
- 品牌:德国蔡司
- 型号: EVO50
- 产地:德国
蔡司 EVO 系列模块化的 SEM 平台适用于直观操作、例行检测和研究应用EVO系列将高性能的扫描电镜和直观的、友好的用户界面体验结合在一起, 同时能够吸引经验丰富的用户以及新用户。无论是在生命科学, 材料科学, 或例行的工业质量保证和失效分析领域,凭借广泛的可选配置, EVO 都可以根据您的要求量身定制。显微镜中心或工业质量保证实验室的多功能解决方案不同的真空室大小和可满足所有应用要求的载物台选项-甚至是大型工业零部件样品使用LaB6灯丝,能够得到优异的图像质量对不导电和无导电涂层的样品的成像和分析
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二手 蔡司 AURIGA COMPACT 聚焦离子束场发射扫描双束电子显微镜FIB-SEM
- 品牌:德国蔡司
- 型号: AURIGA
- 产地:德国
Zeiss Auriga聚焦离子束场发射扫描双束电镜(FIB)是国际上纳米结构分析和材料微纳结构制备的先进设备。它配有电子束和Ga离子束,可以实现电子束与离子束的同时在线观测,具有束流稳定、分辨率高、纳米操控精确的特点,可以在纳米尺度的分辨率下对材料进行三维、高质量、高稳定性的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析,及各种材料微区化学成分的定性和定量检测。 主要技术指标The main technical indicators:SEM分辨率Resolution:  
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二手 TESCAN VEGA 钨灯丝扫描电子显微镜 SEM
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: VEGA
- 产地:捷克
产品特点:TESCAN VEGA COMPACT 秉承了前一代 VEGA 系列电镜的优异性能,是一款入门级,但是功能强大的分析型钨灯丝扫描电镜。紧凑简约的配置、优化的成像能力以及集成的元素成分分析功能,VEGA COMPACT 为研究常规材料的实验室提供一个高性价比的解决方案。VEGA COMPACT 采用了最新的 Essence™ 电镜控制软件,使得扫描电镜成像和成分实时分析能够集成在同一个窗口中实现。这种结合大大简化了获取样品形貌信息和成分数据的过程,使得 VEGA COMPACT 以其高效率、低成本
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二手 FEI Strata 400S 聚焦离子束场发射扫描双束电子显微镜 FIB-SEM
- 品牌:美国FEI
- 型号: Strata 400S
- 产地:美国
技术参数:加速电压5kV-30kV,放大率:300×~500,000×;分辨率2nm;配备二次电子探头(SED),背散射电子探头(BSD),扫描透射电子探头(STEM),纳米机械手(OmniProbe),气相沉积系统(GIS)。 (离子光学系统)分辨率:10nm ; (电子光学系统)分辨率:1nm; (离子光学系统)发射源:镓液态金属离子源; 气体源:C 、Pt; 机械手:有机械手 最大样品尺寸:2cm*2cm*5mm 设备附件:STEM 电子束产生模式:场发射 相关软件:Au
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二手 日本电子 JEM2100 透射电子显微镜TEM
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM2100
- 产地:日本
IDES是时间分辨透射电子显微镜(TEM)领域先驱,专门研究脉冲激光和高速静电束消隐及偏转技术。IDES的产品在TEM的特殊空间分辨率的基础上增加了时间分辨功能,能够在非常快的时间尺度范围内进行新的应用和对样品进行动态研究。 ■ JEM-2100 时间分辨电子显微镜该设备是利用一个或多个激光器进行pump-探针实验而设计的用于研究样品中的瞬态现象。 用户可以直接用激光激发样品,紫外激光产生光电子探针脉冲,在成像、衍射、光谱或光谱成像模式下对样品进
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二手 FEi Helios NanoLab 600 聚焦离子束扫描电子显微镜(待翻新)FIB-SEM
- 品牌:美国FEI
- 型号: Helios NanoLab 600
- 产地:美国
主要特点: 1. Schottky FESEM第一次达到亚纳米分辨率 2. FIB出色的分辨率以及zei大范围的束流和加速电压 3. 出色的成像质量和系统稳定性 4. 新集成的电子和离子束16 位数字图案生成器 5. zei薄的样品制备,非常低的样品损伤、高速度、并且操作轻松 6. 二维和三维的纳米表征和纳米原型制作达到了新的极限
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二手 Gatan K3 原位电子显微镜相机
- 品牌:美国Gatan
- 型号: K3
- 产地:美国
K3 相机K3 是直接探测相机性能表现的新标杆优点 K3® 是直接探测相机性能表现的新标杆,从头开始重新设计,这款真正的新一代相机面向生命科学和材料科学研究领域极具挑战的低剂量电子显微术应用进行了优化。 K3 相机是Gatan 在实时、单电子计数直接探测相机技术领域深厚经验的完整与全新表达。强大的在线信号处理功能,带来超越 K2® 相机的 DQE 表现; CDS 模式的加入进一步提高相机的DQE实时电子计数使您可以即时判断样品质量 可选配基于 GPU 的在线运动
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二手 FEI Titan 80-300 球差校正电子显微镜(待翻新)
- 品牌:美国FEI
- 型号: Titan 80-300
- 产地:美国
仪器简介:FEI Titan 80-300 kV S/TEM是世界上功能强大的商用透射电子显微镜 (TEM)。Titan 自 2005 年推出后便因其提供突破性成果的能力及其卓越的产品设计而备受赞誉。它已迅速成为顶级研究人员的 S/TEM,从而实现了 TEM 及 S/TEM 模式下的亚埃级分辨率研究及探索。 Titan 所具有的稳定性、高性能及简易性将把校正显微镜检查
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二手 FEI Tecnai F30 透射电子显微镜 TEM
- 品牌:美国FEI
- 型号: Tecnai F30
- 产地:美国
Tecnai F30 场发射透射电子显微镜系统仪器简介与用途广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学、金属、半导体、高分子、陶瓷、纳米材料等内部超微结构图像观察,图像分析、处理。主要配置及技术指标Tecnai F30场发射透射电镜主机,包括计算机工作站和单倾、低背景双倾等几种样品杆;数子化、一体化STEM透射扫描附件,包括HAADF探头;数子化、一体化EDX能谱仪系统,包括能谱频谱分析技术软件;数子化、一体化CCD相机,包括622视频TV,CCD相机和794CCD平板相机照相系统;辅助设备包括冷却水机
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二手 FEI Tecnai F20 透射电子显微镜 TEM
- 品牌:美国FEI
- 型号: Tecnai F20
- 产地:美国
一、主要规格及技术指标:1.性能参数:(1)电子枪:肖特基场发射电子枪;(2)加速电压:20kV-200kV。2.连续可调(1)TEM:点分辨率:0.27nm;(2)线分辨率:0.144nm;(3)信息分辨率:0.18nm;(4)STEM:分辨率:0.34 nm;(5)探头:高角环形暗场探头。二、主要功能及特色:1、可实现常规电镜分析术: TEM, HRTEM, STEM,电子衍射2、配备Fischione的三维重构样品杆,可实现±70°的倾转,可用于电子断层三维重构数据的采集,该技术主要用于研究细胞、细
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二手 FEI Helios Nanolab 1200 聚焦离子束扫描电子显微镜FIB-SEM
- 品牌:美国FEI
- 型号: Helios Nanolab 1200
- 产地:美国
Helios NanoLab DualBeam一直以来,Helios NanoLab 都综合采用了 FEI 的电子和离子光学系统、配件和软件,能够为纳米量级研究提供强大的解决方案。对于从事纳米技术前沿研究的科学家,Helios NanoLab 能让他们拓展研究边界,为材料研究开辟新的天地。借助价值的亚纳米 SEM 成像技术、S/TEM 超薄样本制备能力以及精确的原型设计功能,科学家能够将 Helios NanoLab 作为的研究伴侣,为未来的科技进步开发创新的新材料和纳米量级器件。Helios Nan
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二手 FEI Helios NanoLab 400 聚焦离子束扫描电子显微镜(待翻新)FIB-SEM
- 品牌:美国FEI
- 型号: Helios NanoLab 400
- 产地:美国
Helios NanoLab DualBeam一直以来,Helios NanoLab都综合采用了 F日的最佳电子和离子光学系统、配件和软件,能够为尖端纳米量级研究提供强大的解决方案。对于从事纳米技术前沿研究的科学家,Helios NanoLab能让他们拓展研究边界,为材料研究开辟新的天地。借助极具价值的亚纳米SEM成像技术、S/TEM超薄样本制备能力以及最精确的原型设计功能,科学家能够将Helios NanoLab当作理想的研究伴侣,为未来的科技进步开发创新的新材料和纳米量级器件。Helios Nan
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二手 FEI Magellan XHR钨灯丝扫描电子显微镜(待翻新)SEM
- 品牌:美国FEI
- 型号: Magellan XHR
- 产地:美国
高分辨率的扫描电子显微镜 Magellan XHR SEM 系列扫描电子显微镜 (SEM)让科学家和工程师迅速看到以前无法视及的微观世界: 高灵敏的表面图像、以及俯视或从其它角度观看图像,分辨率可达到一纳 米以下。 这款电镜上的一些重要突破在于它镜筒上采用了革 命性的单色枪技术,它使显微学家可完 美地把高空间分辨率和浅入射电子束结合在一起。 Magellan XHR SEM 系列扫描电子显微镜 (SEM) 在不受样品大小限 制的条件下,既扩
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二手 Hitachi SU70 热场发射扫描电子显微镜SEM
- 品牌:日立
- 型号: SU70
- 产地:日本
日立热场发射扫描电镜SU70型采用成熟的高分辨率半内透镜技术和热场发射电子枪,为探索纳米世界打开了一扇新的大门。为了满足在同一台仪器上进行综合分析(需要大探针电流)和分辨率观察的需求,日立开发了SU-70。一、日立热场发射扫描电镜SU70型的特点1.100nA的大探针电流 新开发的肖特基电子枪保证100nA的大探针电流2. 通用的分析型样品室 预留了多种接口,可以安装以下附件进行 分析:EDX,WDX,EBSP,STEM,BSE, C
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二手 Hitachi S-5500 冷场发射电子扫描显微镜SEM
- 品牌:日立
- 型号: S-5500
- 产地:日本
1. 新型的物镜设计可以使其达到世界最高分辨率:0.4nm (30kV)。同时新的控制系统使得超高分辨的显微分析变得 简单易行。 2. 保证分辨率为0.4nm (30kV), 1.6nm (1kV) 3. Hitachi的技术ExB可以让操作者优化图像中SE和BSE信号的比例 4. 新开发的BF/DF双STEM检测器可以同时显示BF像及DF像。在DF STEM模式中还可以改变检测角度。(可选) 5. 电子光学系统的改进可以不用改变样品位置而同时进行EDS分析及形貌观察。 6. 可以使用与FIB兼容的样品杆。
- 二手电镜设备
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