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ESS03 波长扫描时式 多入射角光谱椭偏仪
品牌:北京赛凡
型号:ESS03
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激光椭偏仪SE 400adv PV
品牌:德国Sentech
型号:SE 400adv PV
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HORIBA 智能型多功能椭偏仪 Smart SE
品牌:日本堀场
型号:Smart SE
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光谱椭偏仪
品牌:沈阳科晶
型号:SE-VM
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光伏椭偏仪
品牌:沈阳科晶
型号:SE-PV
- 产品品牌
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EM12-PV 精致型多入射角激光椭偏仪(光伏专用)
- 品牌:北京赛凡
- 型号: EM12-PV
- 产地:
EM12是采用先进的测量技术,针对中端精度需求的光伏太阳能电池研发和质量控制领域推出的精致型多入射角激光椭偏仪。 EM12-PV用于测量绒面单晶硅或多晶硅太阳电池表面减反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可测量光滑平面材料上的单层或多层纳米薄膜的膜层厚度,以及在632.8nm下折射率n和消光系数k。 EM12-PV融合多项量拓科技ZL技术,采用一体化样品台技术,兼容测量单晶和多晶太阳电池样品。一键式多线程操作软件,使得仪器操作简单安全。
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EMPro 多入射角激光椭偏仪
- 品牌:北京赛凡
- 型号: EMPro
- 产地:
EMPro是针对高端研发和质量控制领域推出的极致型多入射角激光椭偏仪。 EMPro可在单入射角度或多入射角度下进行高精度、高准确性测量。可用于测量单层或多层纳米薄膜样品的膜层厚度、折射率n和消光系数k;也可用于同时测量块状材料的折射率n和消光系数k;亦可用于实时测量快速变化的纳米薄膜动态生长中膜层的厚度、折射率n和消光系数k。多入射角度设计实现了纳米薄膜的厚度测量。 EMPro采用了量拓科技多项ZL技术。 特点:
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ES01 快速摄谱式 自动变角度光谱椭偏仪
- 品牌:北京赛凡
- 型号: ES01
- 产地:
ES01是针对科研和工业环境中薄膜测量推出的高精度全自动光谱椭偏仪,系列仪器的波长范围覆盖紫外、可见到红外。 ES01系列光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数(如,厚度)和物理参数(如,折射率n、消光系数k),也可用于测量块状材料的折射率n和消光系数k。 ES01系列光谱椭偏仪适合于对样品进行实时和非实时检测。 特点: 原子层量级的检测灵敏度
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ESS03 波长扫描时式 多入射角光谱椭偏仪
- 品牌:北京赛凡
- 型号: ESS03
- 产地:
ES0S3是针对科研和工业环境中薄膜测量领域推出的波长扫描式高精度多入射角光谱椭偏仪,此系列仪器的波长范围覆盖紫外、可见、近红外、到远红外。 ESS03采用宽光谱光源结合扫描单色仪的方式实现高光谱分辨的椭偏测量。 ESS03系列多入射角光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数(如,膜层厚度、表面微粗糙度等)和光学参数(如,折射率n、消光系数k、复介电常数ε等),也可用于测量块状材料的光学参数。 ESS03系列多入射角光谱椭偏仪尤其适合科研中的新品研发。
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EM12 精致型多入射角激光椭偏仪
- 品牌:北京赛凡
- 型号: EM12
- 产地:
EM12是采用先进的测量技术,针对中端精度需求的研发和质量控制领域推出的精致型多入射角激光椭偏仪。 EM12可在单入射角度或多入射角度下对样品进行准确测量。可用于测量单层或多层纳米薄膜样品的膜层厚度、折射率n和消光系数k;也可用于同时测量块状材料的折射率n和消光系数k;亦可用于实时测量纳米薄膜动态生长中膜层的厚度、折射率n和消光系数k。多入射角度设计实现了纳米薄膜的厚度测量。 EM12采用了量拓科技多项ZL技术。 特点:
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EM13 LD系列多入射角激光椭偏仪
- 品牌:北京赛凡
- 型号: EM13
- 产地:
EM13LD 系列是采用先进的测量技术,针对普通精度需求的研发和质量控制领域推出的多入射角激光椭偏仪。 EM13LD系列采用半导体激光器作为光源,可在单入射角度或多入射角度下对样品进行准确测量。可用于测量单层或多层纳米薄膜样品的膜层厚度、折射率n和消光系数k;也可用于同时测量块状材料的折射率n和消光系数k;亦可用于实时测量纳米薄膜动态生长中膜层的厚度、折射率n和消光系数k。多入射角度设计实现了纳米薄膜的厚度测量。 EM13LD系列采用了量拓科技多项ZL技术。
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ES01-PV 快速摄谱式 自动变角度光谱椭偏仪(光伏专用)
- 品牌:北京赛凡
- 型号: ES01-PV
- 产地:
ES01-PV是针对光伏太阳能电池研发和质量控制领域推出的高性能光谱椭偏仪。 ES01-PV用于测量和分析光伏领域中多层纳米薄膜的层构参数(如,厚度)和物理参数(如,折射率n、消光系数k),典型样品包括:绒面单晶和多晶太阳电池上的单层减反膜(如SiNx,SiO2,TiO2,Al2O3等)和多层减反膜(如,SiNx/SiO2, SiNx2/SiNx1, SiNx /Al2O3等),以及薄膜太阳电池中的多层纳米薄膜。 特点
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EMPro-PV 型多入射角激光椭偏仪(光伏专用)
- 品牌:北京赛凡
- 型号: EMPro-PV
- 产地:
EMPro-PV是针对光伏太阳能电池高端研发和质量控制领域推出的极致型多入射角激光椭偏仪。 EMPro-PV用于测量绒面单晶硅或多晶硅太阳电池表面减反膜镀层的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可测量光滑平面材料上的单层或多层纳米薄膜的膜层厚度,以及在632.8nm下折射率n和消光系数k。 EMPro-PV融合多项量拓科技ZL技术,采用一体化样品台技术,兼容测量单晶和多晶太阳电池样品,并实现二者的轻松转换。一键式多线程操作软件,使得仪器操作简单安全。 特点:
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ESS01 波长扫描式 自动变角度光谱椭偏仪
- 品牌:北京赛凡
- 型号: ESS01
- 产地:
ESS01是针对科研和工业环境中薄膜测量推出的波长扫描式、高精度自动变入射角度光谱椭偏仪,此系列仪器波长范围覆盖紫外、可见、近红外到远红外。 ESS01采用宽光谱光源结合单色仪的方式实现高光谱分辨的椭偏测量。 ESS01系列光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数(如,厚层厚度、表面为粗糙度等)和光学参数(如,折射率n、消光系数k、复介电常数ε等),也可用于测量块状材料的光学参数。 ESS01适合多入射角光谱椭偏仪尤其适合科研中的新品研发。 技术
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ES03 快速摄谱式 多入射角光谱椭偏仪
- 品牌:北京赛凡
- 型号: ES03
- 产地:
ES03是针对科研和工业环境中薄膜测量推出的高精度多入射角光谱椭偏仪,仪器波长范围从紫外到近红外。 ES03多入射角光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数(如,厚度)和物理参数(如,折射率n、消光系数k),也可用于测量块状材料的折射率n和消光系数k。 ES03系列适合于对样品进行实时和非实时的检测。 特点: 原子层量级的检测灵敏度 国际先进的采样方法、
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EM12-PV 精致型多入射角激光椭偏仪(光伏专用)
- 品牌:北京赛凡
- 型号: EM12-PV
- 产地:
EM12是采用先进的测量技术,针对中端精度需求的光伏太阳能电池研发和质量控制领域推出的精致型多入射角激光椭偏仪。 EM12-PV用于测量绒面单晶硅或多晶硅太阳电池表面减反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可测量光滑平面材料上的单层或多层纳米薄膜的膜层厚度,以及在632.8nm下折射率n和消光系数k。 EM12-PV融合多项量拓科技ZL技术,采用一体化样品台技术,兼容测量单晶和多晶太阳电池样品。一键式多线程操作软件,使得仪器操作简单安全。
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EMPro-PV多入射角激光椭偏仪
- 品牌:北京赛凡
- 型号: EMPro-PV
- 产地:通州区
EMPro-PV是针对光伏太阳能电池高端研发和质量控制领域推出的型多入射角激光椭偏仪,用于测量绒面单晶硅或多晶硅太阳电池表面减反膜的厚度、折射率n、消光系数k等参数。融合多项ZL技术,采用一体化样品台技术,兼容测量单晶和多晶太阳电池样品,并实现二者的轻松转换。
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EMPro极致型多入射角激光椭偏仪
- 品牌:北京赛凡
- 型号: EMPro
- 产地:通州区
EMPro是针对高端研发和质量控制领域推出的型多入射角激光椭偏仪。可在单入射角度或多入射角度下进行高精度、高准确性测量。
- 椭偏仪/椭圆偏振仪
- 椭偏仪/椭圆偏振仪,椭偏仪/椭圆偏振仪