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德国布鲁克 非接触光学轮廓仪ContourGT 3D
品牌:德国布鲁克
型号:ContourGT 3D
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基恩士 3D 轮廓测量仪 VR-6000 系列
品牌:日本基恩士
型号:VR-6000
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三维表面形貌仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap 1000WLI
- 产地:美国
仪器简介: 提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。
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双模式表面三维轮廓仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap-D(0)
- 产地:美国
仪器简介:NanoMap-D双模式扫描三维表面轮廓仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以用于科学研究,也可以用于工业产品的检测。1、三维表面结构:粗糙度,波纹度,表面结构,缺陷分析,晶粒分析等2、二维图像分析:距离,半径,斜坡,格子图, 轮廓线等3、表界面测量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面4、薄膜和厚膜的台阶高度测量5、划痕形貌,摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量6、微电子表面分析和MEMS表征主要特点: 包含接触式和非接触式两种扫描方式 高精度&
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三维轮廓仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap-D
- 产地:美国
仪器简介: NanoMap-D扫描三维表面轮廓仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以 用于科学研究,也可以用于工业产品的检测。 1、三维表面结构:粗糙度,波纹度,表面结构,缺陷分析,晶粒分析等 2、二维图像分析:距离,半径,斜坡,格子图, 轮廓线等 3、表界面测量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面 4、薄膜和厚膜的台阶高度测量 5、划痕形貌,摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量
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轮廓仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap-500LS
- 产地:美国
轮廓仪NanoMap-500LS接触式三维表面台阶仪NanoMap-500LSNanoMap 500LS探针三维台阶仪特点常规的探针轮廓仪和扫描探针显微镜技术的wan美结合 双模式操作(针尖扫描和样品台扫描),即使在长程测量时也可以得到zuiyou化的小区域三维测图 针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式,三维扫描范围从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到50mm。 接触式探针轮廓仪在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样品直接观察 针尖扫描
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三维表面轮廓仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap-LT
- 产地:美国
NanoMap-1000WLI非接触式三维高清图像的光学轮廓仪白光干涉仪器 - 白光干涉带来了高的分辨率、 400万像素的图像、大的扫描范围,可定制的波长范范围,使用户可以轻松灵活的的到任何表面形貌。提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频
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三维轮廓仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap - D
- 产地:美国
三维轮廓仪NanoMap-D NanoMap-D三维表面轮廓仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以用于科学研究,也可以用于工业产品的检测。该款仪器可以看做是表面研究的万用表,采用接触式和非接触式功能集于一身的设计特点,弥补两种模式的局限,发挥表面形貌仪的测量极限。光学非接触式有速度快,直接三维成象,不破坏样品等特点。探针接触模式方便快捷,制样简单,测量材料广泛。两种模式相结合可以对更多形状、性状、材质的试样进行表面形貌的研究。该轮廓仪测量表面可以覆盖90%以上材料表面。
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spip三维图形分析软件
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: SPIP
- 产地:美国
扫描探针图像处理软件,SPIP 多年来,SPIP扫描探针图像处理软件,已成为纳米尺度的图像处理的实质意义的标准。 SPIP图像处理软件是一个模块化的软件包,提供一个基本的软件模块和14个可选的用于特定的目的软件附件。 无论您是一个ZS用户或刚刚学习图像分析的入门新手,使用SPIP图像处理软件,您只需点击几下鼠标即可获得您需要的分析结果。 SPIP图像分析软件被用于,包括半导体物理,化学,生物学检验,计量,纳米技术等各种
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探针接触式三维轮廓仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap500LS
- 产地:美国
仪器简介: 该系统利用扫描探针显微镜光杠杆位移检测技术和超平整参照面-大型样品台扫描技术,并与压电陶瓷(PZT)扫描wan美结合,可以再不丧失精度的情况下,即得到超大样品整体三维轮廓图,又呈现局部三维形貌像。其中样品台扫描参考平面使用超高平坦度光学抛光平台,有效解决了以往样品台扫面,由于丝杠公差引起的测试结果有亚微米量级的误差。 三维表面形貌/轮廓仪主要应用在金属材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各种材料表面的薄膜厚度,台阶高度,二维粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),三维粗
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形貌仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap-D
- 产地:美国
仪器简介: NanoMap-D (双模式) 三维轮廓仪使成像提高到一个新的水平。它所具有技术竞争力在于接触式和光学三维轮廓仪的wan美结合。自动采样运动和一键测量功能使得 NanoMap-D 在三维图像世界里向前更进一步。 通过利用接触式及非接触式双模式基于技术上的优势获得获得全面的表面特性。NanoMap-D给使用者带来更高水平的的测量灵活性。该平台几乎可以测量任何样品(甚至包括反射率0%,非平面样品) &
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探针轮廓仪
- 品牌:美国AEP Technology
- 型号: NanoMap-LS
- 产地:美国
仪器简介:三维轮廓仪NanoMap-LS三维轮廓仪NanoMap-LS拥有超大的扫描范围,仅需按下一个按钮即可产生高分辨率的三维和二维图像。三维轮廓仪NanoMap-LS特点常规的接触式轮廓仪和扫描探针显微镜技术的wan美结合自动样品台扫描,保证样品精确而快速的扫描测试。使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到 100mm。在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样品直接观察。软件设置恒定微力接触简单的2步关键操作,友好的软件操作界面三维轮廓仪的应用三维表面形貌/轮廓仪主要应用在金属材料、生物材料、聚合物材料、
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[公开招标]预算198万元 武汉工程大学采购手持拉曼光谱仪
武汉工程大学公开招标手持拉曼光谱仪、超微型地物光谱仪,多功能全光谱近红外光谱分析仪,3D轮廓扫描仪、桌面式反射光谱测试仪,教学光纤光谱仪,项目编号:ZB0103-202404-ZCHW0407
- 轮廓仪
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