NanoSystem NV-3200 非接触式3D光学轮廓仪

NanoSystem成立于2003年，为半导体、显示器和其他精密机械行业提供了用非接触式表面测量方法进行测量的解决方案。

NanoSystem已经建立了非接触式2D、3D测量和检测系统的核心技术，并成为该市场世界***的解决方案的***。尤其在半导体、显示屏和精密机械方面的应用，得到包括LG,SAMSUNG等******公司的认可。高精度(Z轴分辨率达0.1nm)的非接触式表面轮廓仪，采用白光扫描干涉技术，使客户有能力看到、理解和纠正或保持产品质量。